射線探測器

射線探測器屬性

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射線探測器描述

X-123：完整X射線探測器系統



X-123 是一個完整的X射線探測系統，可快速進入市場。儀器裝置齊備，只需要+5V 的直流供電，通過USB 或RS232 連接到電腦即可。X-123 標志著Amptek 多年X 射線探測器研發成果。它提供一個套裝中的XR100 X 射線探測器和電荷敏感前置放大器，以及DP5數字脈沖處理器和有PC5電源的多孔道分析儀。



整體系統包括：

1. X射線探測器（SDD,Si-PIN, CdTe）

2. 前置放大器

3. 數字脈沖處理器和多孔道分析儀

4. 電源

系統性能


能量分辨率
根據探測器及其峰化時間和溫度的不同，5.9 eV 峰位處半峰寬可達145 至260 eV。

能量范圍
1.5 至25 keV 時，X 射線能量效率>25%。亦可在降低效率的條件下用于超過該能范圍的情況。

最大計數率
取決于峰化時間。在激活堆積抑制功能和50%死時間時，推薦最大計數率列于下表。

DP4 峰化時間

（μs）
2.4
6.4
25.6

成型時間（μs）
1.0
2.9
11.6

推薦最大速率
1.2x105
4.6x105
1.2x104


　

探測器和前置放大器


探測器種類
Si-PIN (亦可使用SDD 或 CdTe)

探測器面積
5 mm2 至 25 mm2

探測器厚度
300 μm, 500 μm 或 680 μm

Be 窗厚度
1 mil (25 μm) 或 0.5 mil (12.5 μm)

電子制冷
2 級

前置放大器種類
Amptek 公司為用戶定制通過高壓聯接復位的前放

脈沖處理器


粗調增益
四種可通過軟件選擇的設置：􀵈11，􀵈21，􀵈55 和􀵈106

細調增益
可通過軟件選擇從0.75 到1.25，10 位分辨率

系統轉換增益
在1k 通道情況下, 可達7 to 110 eV/通道, 即總和7 to 110 keV

增益穩定性
<100 ppm/°C (典型情況)

脈沖形狀
梯形

峰化時間
通過軟件可選24 個峰化時間，從0.5 至102μs，大致記錄間隔相當于0.4 至45 μs 半高斯脈沖整形時間

死時間
總死時間相當于1.25 倍峰化時間，無轉換時間

快速通道脈沖對分辨時間
600 ns

多通道分析器


通道數
可通過軟件選擇：8k，4k，2k，1k，0.5k 或0.25k

預設值
時間，總計數值，感興趣區（ROI）計數值，單通道內計數值

數據傳輸


USB
1.1 (兼容2.0)最高傳輸速率(12 mbps)

串口
標準RS232 接口，最高傳輸速率達57.6 kbaud

電源


輸入電源
+5 V，250mA 直流電，含交流電電源適配器

輸入電源范圍
4 V 至6 V (300 至200 mA，最大500 mA)

可提供高壓
內置倍增器，可調至400 V

冷卻器
閉環控制器，溫差達85 °C

工作環境


操作溫度
0 °C to 40 °C

總功耗
<1.2 Watt

保修期
1 Year

典型壽命
根據使用情況，約5 至10 年

保存和運輸
干燥環境下10 年以上.典型的存儲和運輸條件：-20°C 至50°C, 無冷凝濕度10%至90%

軟件界面
Amptek 的ADMCA 軟件用于數據的采集、控制和顯示。可在Windows 98SE 及其之后的PC 操作系統下運行。該軟件允許對于X-123 所有功能的控制，包括數據采集和存儲。Amptek 公司同時向用戶提供DLL 庫（API）及樣板程序，供用戶自己開發軟件使用。


XR-100 X射線探測器



XR-100CR系列產品由高性能X射線探頭，前置放大器（前放）和致冷系統組成，首次采用熱電致冷技術保持硅PIN光電二極管的低溫工作環境，另外在兩級熱電致冷器上還安裝了輸入場效應管(FET)和新型溫度反饋控制電路，這樣探頭組件的溫度可保持在約零下55攝氏度左右，并可通過組件內置的溫度傳感器顯示實時溫度。探頭采用TO-8封裝，并利用不透光和不透氣（真空封裝適用）的薄鈹(Be)窗以實現封裝后的軟X射線探測。



產品特性：

1.硅PIN光電二極管探頭；

2.兩級熱電致冷器；

3.探頭溫度實時顯示；

4.鈹（Be）窗；

5.多層準直器；

6.密封封裝（TO-8）；

7.檢測范圍寬，適于多種應用；

8.操作簡單，易上手。



應用范圍：

1. X射線熒光分析；

2. RoHS/WEE標準檢測；

3.便攜式設備；

4. OEM應用；

5.核醫療學；

6.高校和科研院所教學研究；

7.藝術和考古學；

8.生產過程監控；

9.穆斯堡爾譜儀；

10.航空及宇航應用；

11.核電站輻射監控；

12.有毒物垃圾場檢測；

13.粒子誘發X射線熒光分析（PIXE）



型號選型



X射線探測器


XR-100探測器

型號
X-123完整系統

型號
探測器

材料
探測器

面積
探測器

厚度
能量分辨率/

峰化時間/

峰背比

@5.9keV（55Fe）
鈹(Be)窗

厚度
備注

XY-FS1120D-G3SP
ZY-FS1120D-G3SP
Si-PIN
7 mm2
300 µm
165 - 185 eV

44.8 μs

250/1
1 mil
無內置準直器

XY-FS4120D-G3SP
ZY-FS4120D-G3SP
Si-PIN
13 mm2
300 µm
200 - 220 eV

44.8 μs

550/1
1 mil
無內置準直器

XY-FSG32MD-G3SP
ZY-FSG32MD-G3SP
Si-PIN
6 mm2
500 µm
145 - 165 eV

32 μs

6200/1
1 mil
有內置準直器

XY-FS432MD-G3SP
ZY-FS432MD-G3SP
Si-PIN
13 mm2
500 µm
145 - 165 eV

32 μs

6200/1
1 mil
有內置準直器

XY-FSJ32MD-G3SP
ZY-FSJ32MD-G3SP
Si-PIN
25 mm2
500 µm
180 - 205 e

32 μs

4100/1
1 mil
有內置準直器

XY-FSG32MD-E2SP
ZY-FSG32MD-E2SP
Si-PIN
6 mm2
500 µm
190 - 225 eV

32 μs

2000/1
0.5 mil
有內置準直器

XY-GSJ3AMD-G2SP
ZY-GSJ3AMD-G2SP
SDD
25 mm2
500 µm
125 - 140 eV

11.2 μs

8200/1
0.5 mil
有內置準直器

XY-TC2470D-G4BB
ZY-TC2470D-G4BB
CdTe
9 mm2
1 mm
1.2 keV FWHM

@ 122 keV, 57Co
4 mil
可探測伽馬射線

XY-TC5470D-G4BB
ZY-TC5470D-G4BB
CdTe
25 mm2
1 mm
1.5 keV FWHM

@ 122 keV, 57Co
4 mil
可探測伽馬射線


　

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