XM-SHFB-31系列射頻導納電容物位計

XM-SHFB-31系列射頻導納電容物位計屬性

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XM-SHFB-31系列射頻導納電容物位計描述

XM-SHFB-31系列射頻導納電容物位計采用先進射頻電容技術，將電容量的變化轉換成數字量變化，再由單片機進行運算，轉換成4-20mA輸出。它使復雜的物位測量如高溫、高壓、真空、強腐蝕等介質的物位測量變得容易而簡單。能滿足不同要求(如污水、污油、熔融質、固體顆粒等)的物位測量和控制。

• 主要特點

◆應用射頻電容技術，解決了溫度、濕度、壓力、物體的導電性等因素對測 量 過程的影響，因而具有極高的抗干擾性和可靠性。

◆能夠測量強腐蝕性的液體和固體顆粒

◆高溫高壓測量 過程溫度： -40～220℃ 過程壓力：-0.1～40Mpa

• 主要技術指標

◆電源： 12-24VDC ◆輸出負載：4-20mA,350Ω（12V）；900Ω（24V供電）

◆精度： 0.5%(4-20mA)；0.2%(數字輸出) ◆環境溫度：-30-70℃

◆環境濕度： 0-95%RH ◆過程溫度：-40-220℃

◆測量范圍： 0-1000PF ◆過程壓力：-0.1-40.0MPa

◆外殼：鋁合金防爆型，適用于 ◆探極：可采用任意剛性或柔性探極。

潮濕、有酸氣等腐蝕性環境。

• 外形結構圖

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