自動測試矢量生成的其他應用
發布時間:2017/11/22 20:47:20 訪問次數:408
自動測矢量生成除了能夠偵測固定式故障,對于不斷發展的半導體技術,還能夠OB2268CCPA測試其他的障礙,比如傳播延遲故障,電源噪音,串擾失效。延遲故障的檢測需要在電路所設計I作速度下測試,所以也就需要昂貴的高速測試機臺,如何在低速測試機臺完成測試,也是研究的主題。
電源噪聲主要會降低芯片的性能,造成單元之間互連的傳播延遲和可靠性的下降,白動生成的測試矢量必須能夠產生最差情況下的電源噪聲。
此外,ATPG算法的技術也在芯片自動化設計的領域當中,包括邏輯優化、冗余檢測、時序分析等方面都有所幫助。
自動測矢量生成除了能夠偵測固定式故障,對于不斷發展的半導體技術,還能夠OB2268CCPA測試其他的障礙,比如傳播延遲故障,電源噪音,串擾失效。延遲故障的檢測需要在電路所設計I作速度下測試,所以也就需要昂貴的高速測試機臺,如何在低速測試機臺完成測試,也是研究的主題。
電源噪聲主要會降低芯片的性能,造成單元之間互連的傳播延遲和可靠性的下降,白動生成的測試矢量必須能夠產生最差情況下的電源噪聲。
此外,ATPG算法的技術也在芯片自動化設計的領域當中,包括邏輯優化、冗余檢測、時序分析等方面都有所幫助。
上一篇:可測性設計