兩家公司幫助客戶達成并超越產品上市時間目標

新聞要點：

15.http://zhehan.51dzw.com/ 緊密協作，結合超過百年的晶圓上測試經驗，帶來器件表征和晶圓上測試的不斷創新

創新有助于加速客戶的產品上市

2016 年6月7日，北京  是德科技公司（nyse：keys）和 cascade microtech公司（nasdaq：cscd）近日共同慶祝 25 年精誠合作，幫助客戶應對最棘手的半導體研發挑戰的歷史。這一合作帶來了重大的晶圓上設計和測試創新，幫助客戶加速產品上市。

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是德科技源自 1939 年由 bill hewlett 和 dave packard 創立的原惠普公司。cascademicrotech公司由 eric strid和 reed gleason 于 1983 年創立。1990 年，兩家公司開始聯手打造產品路線圖，實現了重大技術突破。憑借 100 多年的半導體測試經驗，兩家公司的聯合創新也影響到了客戶進行晶圓上研究和設計的方式。

cascade microtech公司總裁兼首席執行官 michael burger 表示，“我們與是德科技長達數十年的合作，使得我們在解決客戶難題方面具有獨特的優勢。通過在開發周期的早期合作，我們能夠為客戶提供真正創新的測試解決方案，提高測量精度，交付值得信賴的結果。”

keysight-cascade microtech客戶解決方案具有以下特點：

1991：hp/keysight 4155 半導體參數分析儀幫助客戶進行低噪聲和漏電流測量。客戶反饋表明，需要將這些測量擴展到探針和晶圓基板。這促使 cascade microtech公司開發了microchamber®技術和防護卡盤，以便在探頭和卡盤端子上進行 10 fa以下的電流測量。客戶由此第一次能夠看到晶體管的真實漏電流。

1999：8510xf 網絡分析儀系統支持首款寬帶 110 ghz 同軸解決方案，為客戶提供最佳的整體性能，充分滿足毫米波應用中的設計和測試挑戰。同軸寬帶解決方案的引入，可以用一個寬帶單次掃描解決方案完成器件測量任務，而過去同樣的任務需要使用三套儀器和探頭，還需要進行校準。新的解決方案不僅節省了客戶的時間和金錢，同時還提供更全面、更準確的測量，測量范圍延伸至探針。

2015：完整的晶圓級測量解決方案用于快速、準確的半導體晶圓上測量，通過有保障的系統配置、安裝和支持，能節省測量時間，降低客戶風險。客戶得到保證  不會漏掉任何元器件。這個系統事先經過驗證，能提供可靠的探針性能，確保更快獲得第一手數據。

是德科技副總裁兼總經理 gregg peters表示，“在過去的 25 年中，客戶能成功進行器件表征和晶圓上測量，我們兩家公司團隊合作的作用不可或缺。今天，我們既要慶祝過去的成功，也期待著在未來 25 年繼續合作，幫助我們的客戶更快將產品推向市場。”