tektronix表示：許多晶圓廠正使用自訂的混合測試系統來執行功率半導體測試，在從低電壓測試轉向高電壓測試時，需手動變更測試設定。正如您所預期，這會增加堼程步驟并拖慢生產速度。相較之下，s540是一款完全整合的解決方案，特別適合必須迅速測試各種裝置的生產環境。

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為提供生產級效能，s540可在高達48針腳上執行參數量測，而不需更換電纜或探棒卡設施，還可執行高達3kv的電晶體電容量測，如ciss、coss和crss，而無需手動重新配置測試針腳。s540還提供了pa級量測效能，可在不到1秒內執行全自動高壓m)漏電流測試，進一步提升了測試產出量。

s540為標n柹桃禱�产屏P�提供两z賞暾�准娰的系蛷劓格、安全蠂嗇性、珍Z瞎δ埽�壹s叭�球性服务簷Eг�，而諒T┒際幽誆靠�发或走h┑南低吵Ｎ薹ㄌ峁┑墓δ堋�s540秉承了keithley 30余年的半導體參數經驗，完美整合了領先業界的半導體測試儀器與高低電壓切換矩陣、連接纜線、探棒卡轉接器、探測器驅動程式和測試軟體。

tektronix宣oh推出keithley s540功率半導體測試系統，這是為高達3kv的功率半導體裝置和結構提供的全自動48針腳參數測試系統。完全整合的s540是專為與最新復合功率半導體材料 (包括碳化硅 (sic) 和氮化鎵 (gan)) 搭配使用而進行最佳化處理，可在一次探頭接入中執行所有高壓、低壓和電容等測試。

隨著對功率半導體裝置的需求不斷提高，同時，sic和gan也日益商業化，堼造商正在生產堼程中c∮鎂г布恫饈裕�译s行�處V�良率并讣{樸�利能力。针对諒T┯τ茫瑂540顯著地縮短了測試時間和測試設定時間，并減少了ot用空間，同時實現了實驗室級高電壓量測效能，進而降低了擁有成本。