充電電池保護芯片延時外置可調
發布時間:2020/5/3 14:43:40 訪問次數:1542
zcc2652系列是專用3 節可充電電池保護芯片,具有高精度、高集成度的特點,適用于電動工具、吸塵器以及小型后備電源等。zcc2652 通過檢測各節電池的電壓、充放電電流以及環境溫度等信息實現電池過充、過放、放電過電流、短路、充電過電流、溫度保護等保護功能,通過外置電容來調節過充、過放、過電流保護延時。
產品特點:
各節電池的高精度電壓檢測功能;
3段放電過電流檢測功能;
充電過電流檢測功能;
延時外置可調;
可通過外部信號控制充電、放電狀態;
充、放電控制端子最高輸出電壓12 v;
溫度保護功能;
斷線保護功能;
寬工作溫度范圍:-40℃~85℃
低功耗;
產品應用:
電動工具
吸塵器
小型ups 后備電源
測試半導體材料的霍爾效應是表征和分析半導體材料的重要手段。我們可以根據霍爾系數的符號來判斷半導體材料的導電類型,是n型還是p型;霍爾效應從本質上講是運動的帶電粒子在磁場中受洛侖茲力作用而引起的偏轉。當帶電粒子(電子或空穴)被約束在固體材料中,這種偏轉就導致在垂直于電流和磁場的方向上產生正負電荷的聚積,從而形成附加的橫向電場。
根據霍爾系數及其與溫度的關系可以計算載流子的濃度,以及載流子濃度同溫度的關系,由此可以確定材料的禁帶寬度和雜質電離能;通過霍爾系數和電阻率的聯合測量能夠確定載流子的遷移率,用微分霍爾效應法可測縱向載流子濃度分布;測量低溫霍爾效應可以確定雜質補償度。
與其他測試不同的是霍爾參數測試中測試點多、連接繁瑣,計算量大,需外加溫度和磁場環境等特點,在此前提下,手動測試是不可能完成的。
霍爾效應測試系統可以實現幾千到至幾萬點的多參數自動切換測量,系統由keithley2400 系列源表,2700 矩陣開關和霍爾效應測試軟件cyclestar等組成。可在不同的磁場、溫度和電流下根據測試結果計算出電阻率、霍爾系數、載流子濃度和霍爾遷移率,并繪制曲線圖。
方案特點:
標準系統可進行在不同磁場和不同電流條件下的霍爾效應和電阻的測量
測試和計算過程由軟件自動執行,能夠顯示數據和曲線,節省了大量的時間
選擇變溫選件,可以進行不同溫度條件下的霍爾效應和電阻的測量
電阻測量范圍:0.1mw—50mw
測試材料:
半導體材料:sige,sic, inas, ingaas, inp, algaas,hgcdte 和鐵氧體材料等
高阻抗材料:半絕緣的gaas, gan, cdte 等
低阻抗材料:金屬、透明氧化物、弱磁性半導體材料、tmr 材料等
系統原理:
霍爾效應測試系統是根據范德堡法測量霍爾器件相關參數,主要是對霍爾器件的i-v 測量,再根據其他相關參數來計算出對應的值。
深圳市創芯聯盈電子有限公司http://cxly.51dzw.com/
(素材來源:ttic和eechina.如涉版權請聯系刪除。特別感謝)
zcc2652系列是專用3 節可充電電池保護芯片,具有高精度、高集成度的特點,適用于電動工具、吸塵器以及小型后備電源等。zcc2652 通過檢測各節電池的電壓、充放電電流以及環境溫度等信息實現電池過充、過放、放電過電流、短路、充電過電流、溫度保護等保護功能,通過外置電容來調節過充、過放、過電流保護延時。
產品特點:
各節電池的高精度電壓檢測功能;
3段放電過電流檢測功能;
充電過電流檢測功能;
延時外置可調;
可通過外部信號控制充電、放電狀態;
充、放電控制端子最高輸出電壓12 v;
溫度保護功能;
斷線保護功能;
寬工作溫度范圍:-40℃~85℃
低功耗;
產品應用:
電動工具
吸塵器
小型ups 后備電源
測試半導體材料的霍爾效應是表征和分析半導體材料的重要手段。我們可以根據霍爾系數的符號來判斷半導體材料的導電類型,是n型還是p型;霍爾效應從本質上講是運動的帶電粒子在磁場中受洛侖茲力作用而引起的偏轉。當帶電粒子(電子或空穴)被約束在固體材料中,這種偏轉就導致在垂直于電流和磁場的方向上產生正負電荷的聚積,從而形成附加的橫向電場。
根據霍爾系數及其與溫度的關系可以計算載流子的濃度,以及載流子濃度同溫度的關系,由此可以確定材料的禁帶寬度和雜質電離能;通過霍爾系數和電阻率的聯合測量能夠確定載流子的遷移率,用微分霍爾效應法可測縱向載流子濃度分布;測量低溫霍爾效應可以確定雜質補償度。
與其他測試不同的是霍爾參數測試中測試點多、連接繁瑣,計算量大,需外加溫度和磁場環境等特點,在此前提下,手動測試是不可能完成的。
霍爾效應測試系統可以實現幾千到至幾萬點的多參數自動切換測量,系統由keithley2400 系列源表,2700 矩陣開關和霍爾效應測試軟件cyclestar等組成。可在不同的磁場、溫度和電流下根據測試結果計算出電阻率、霍爾系數、載流子濃度和霍爾遷移率,并繪制曲線圖。
方案特點:
標準系統可進行在不同磁場和不同電流條件下的霍爾效應和電阻的測量
測試和計算過程由軟件自動執行,能夠顯示數據和曲線,節省了大量的時間
選擇變溫選件,可以進行不同溫度條件下的霍爾效應和電阻的測量
電阻測量范圍:0.1mw—50mw
測試材料:
半導體材料:sige,sic, inas, ingaas, inp, algaas,hgcdte 和鐵氧體材料等
高阻抗材料:半絕緣的gaas, gan, cdte 等
低阻抗材料:金屬、透明氧化物、弱磁性半導體材料、tmr 材料等
系統原理:
霍爾效應測試系統是根據范德堡法測量霍爾器件相關參數,主要是對霍爾器件的i-v 測量,再根據其他相關參數來計算出對應的值。
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