照明控制電路中的控制開關損壞將無法顯示照明電路的通斷控制。控制開關的檢測方法比較簡單,借助萬用表檢測其觸點間阻值在開關通斷兩個狀態下的阻值即可。

照明控制電路中摔制開關的檢測方法，控制集成電路ne555是一種時基電路。該集成電路用字母“ic”標識,其內部設有振蕩電路、分頻器和觸發電路,ne555時基電路的實物外形及內部結構框圖。

在路檢測ne555的供電電壓可以看到,ne555的2腳、6腳、3腳為關鍵輸入端和輸出端引腳。3腳輸出電平為高電平還是低電平受內部觸發器的控制,觸發器則受2腳和6腳觸發輸入端控制。ne555損壞將導致整個控制器控制功能失常。檢測ne555一般可在電路中檢測其供電、輸出電壓等判斷好壞。

使用二極管解決方案之后，正向壓降可能會對欠壓鎖定閾值和電壓監測閾值精度產生負面影響。

在這種應用中，所監測的電壓足夠低，與輸入串聯的二極管正向電壓會嚴重影響電壓監測閾值的精度。使用電阻解決方案時，可選擇使用1.96 kΩ限流電阻，以保護ltc2966不受反向電壓影響。如果輸入電壓下拉至−40v以下，則選擇的電阻大小就能夠將輸入引腳輸出的電流限制在20 ma。低值電阻僅導致幾毫伏壓降，因此電阻對閾值精度的影響可以忽略不計。

微處理器的平面版本晶體管中，mosfet 的柵極堆疊位于溝道區正上方，旨在將電場投射到溝道區。向柵極（相對于源極）施加足夠大的電壓會在溝道區域中形成一層移動電荷載流子，從而允許電流在源極和漏極之間流動。

當我們縮小經典的平面晶體管時,一個被設備物理學家稱之為“短溝道效應”的東西引起大家的廣泛關注。

從基本上說，這是因為源極和漏極之間的距離變得如此之小，以至于電流會在不應該的情況下通過溝道泄漏，這主要歸因于柵電極難以耗盡電荷載流子的溝道。為了解決這個問題，業界轉向了一種完全不同的晶體管架構—— finfet。它將柵極包裹在三個側面的溝道周圍，以提供更好的靜電控制。