BP3378A+BP5001 65W高PF 0-10調光

1.方案名稱：BP3378A，BP5001

2.方案品牌：上海晶豐明源

3.方案簡介：輸入電壓： 90Vac-277Vac， 50/60Hz輸出負載： 26 -41Vdc 輸出電流： 1.6A 調光方式： 0-10V 調光PF ：>0.95@ 滿載THD ：<10%@ 滿載效率： >90%@200Vac ，滿載

4.方案規格：SOP8

5，原路理圖：

深圳鑫意誠電子有限公司 聯系電話：13380343102 QQ：277487044 胡生

g7是掃描電子顯微缺陷檢測系統(defect review scanning electron microscope, dr-sem),它是目前市面上唯一具有高分辨率成像，以及經生產驗證的、具有先進機器學習自動缺陷分類（automatic defect classification, adc）能力的系統

purity™ ii自動缺陷分類系統提升機器學習算法，能夠進行實時分類和分析

將設計數據與集成的自動缺陷分類系統相結合，能加速分析制程缺陷的根本原因，加快產能和良率提升所需的時間

應用材料公司今日發布了其市場領先的semvision™系列缺陷檢測和分類技術最新產品，助力尖端存儲和邏輯芯片的制造商提升生產力。最新的semvision g7系統，是目前市面上唯一具有高分辨率缺陷成像，以及經生產驗證、具有先進機器學習智能的dr-sem*系統。它有助于芯片制造商更快對缺陷進行分類，找出根本原因并解決良率問題。

“由于將日趨復雜的新設計投入生產的難度越來越大，芯片制造商正在尋找加快產品面市和實現最優良率的方法。”應用材料公司副總裁兼工藝診斷及控制事業部總經理ofer greenberger表示，“semvision g7系統進一步拓展了成像能力，可以對關鍵缺陷進行檢測，包括在晶圓邊緣斜面和側面位置。這些地方的缺陷若未能及時發現，可能會導致芯片的良率下降。利用全新機器學習算法進行實時自動分類和缺陷分析，可以確保精準和一致的工藝控制，加速提升芯片制造商實現穩定的生產工藝