MICROFJ-30035-TSV-TR1
Silicon Photomultiplier (SiPM),J-Series, 3mmx3mm, 35μm/5676 Microcells, 420nm, ODCSP-8
硅光電倍增管(SiPM)靈敏面積:3*3mm microcell:35μm/5676 Microcells 最大波長: 420nm
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并可提供開發評估測試板:MICROFJ-SMA-30035-GEVB 可用于微型 FJ-30035-TSV-TR設計開發用
產品詳細信息
ON Semiconductor's J-Series low-light sensors feature a high PDE (photon detection efficiency) that is achieved using a high-volume, P-on-N silicon foundry process. The J-Series sensors incorporate major improvements in the transit time spread which results in a significant improvement in the timing performance of the sensor. J-Series sensors are available in different sizes (3 mm, 4 mm and 6 mm) and use a TSV (Through Silicon Via) process to create a package with minimal deadspace, that is compatible with industry standard lead-free, reflow soldering processes.
J 系列傳感器采用 ON Semiconductor 獨特的 " 快速輸出 Terminal
溫度穩定性為 21.5 mV/°C
異常擊穿電壓均勻性 ±250 mV
提供回流焊接兼容 TSV 芯片級封裝
超低暗計數率、通常為 50 kHz/50V
優化用于高性能計時應用、例如 TOF - PET
3 mm 、 4 mm 和 6 mm 傳感器尺寸
偏壓電<壓為 30 V
在 420 nm 時產生 50% 光子檢測效率( PDE )
改善了信號上升時間和微單元恢復時間
無需主動電壓控制
行業領先的一致性
TSV 封裝可產生幾乎零死空間、允許創建高填充因子陣列、并且不含鐵金屬
應用
醫療成像
危險和威脅
3D 范圍和傳感
生物技術與科學
高能物理
輻射探測
產品技術參數 屬性 數值封裝類型 表面安裝
安裝類型 表面安裝
針數目 4
二極管材料 Si
檢測到的最小波長 200nm
檢測到的最大波長 900nm
長度 3.16mm
寬度 3.16mm
高度 0.46mm
系列 J
擊穿電壓 24.7V
MicroFJ−30020−TSV
MicroFJ−30035−TSV
MicroFJ−40035−TSV
MicroFJ−60035−TSV
MicroFJ−30035−TSV
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