所謂低電平失效是指電容器在遠低于工作電壓的低電平下使用時，M27C1001-45XF1出現電容器開路或容量衰減超差而失效。隨著微電子技術的發展，電容器實際工作電壓很低，在低電壓工作情況下，電容器沒有電容量或部分喪失電容值經常出現，如果采用高電平沖擊，電容器又可恢復原來的電容值，顯然這不是引出線折斷等結構上的開路造成的。

   對于聚苯乙烯電容器，其電極材料是鋁箔，與銅箔焊接后作為引線。由于鋁箔在空氣中極易氧化，會在表面生成一層薄的三氧化二鋁，它是導電性不良的半導體材料，在低電平下不易將其擊穿，而形成開路狀態。但在高電平沖擊下，可以使Al2 03薄層擊穿，使引線與鋁箔極板良好接觸，從而恢復其電容量，此外，引線與鋁箔極板點焊不牢或焊點接觸電阻過大時，也會出現低電平失效，因為它可導致有效容量大大地降低。

   對于云母電容器，由于有機物的污染，使銀電極和引出銅箔之間或銅箔和引線卡箍之間，存在一層很薄的蠟膜。在低電平下，當不足把這層蠟膜擊穿時就起到電氣絕緣作用，從而導致低電平開路失效。另外，當銀電極和銅箔受有害氣體（如硫等）的侵蝕時，使樗接觸電阻增大，從而也可導致低電平失效。