下面結合一個非常簡單的電路實例，‘介紹電路性能分析的具

體步驟。

   眾所周知，A180-WL簡單RC充放電電路的上升時間和下降時間直接與電路中的電阻阻值成正比。下面用電路性能分析的方法定量計算它們之間的變化關系。

   繪好如圖5-42所示RC電路后，按下述6個步驟進行性能分析。

   第一步：進行參數掃描分析

   首先設置參數。瞬態分析參數與圖3-17情況相同。參數掃描分析參數的設置為：電阻Rval從40Q變至400Q，步長為40Q。參數設置完后對電路進行電路模擬計算。

   第二步：在Probe窗口顯示參數掃描結果

   參數掃描分析后，采用5.2節介紹的方法，在Probe窗口顯示參數掃描結果。

   第三步：啟動電路性能分析過程

   在Probe窗口選擇執行Trace—Performance Analysis子命令，屏幕上出現如圖5-43歷示Performance Analysis框。

   圖5-43中的內容可分為三部分。

   ①說明注釋部分：圖中上半部分是介紹Performance Analysis概念的文字性注釋內容。

   ②參數說明部分：圖5-43中間部分列出了與本次性能分析有關的下述信息。

   當前選中的數據批次。圖中為“10 0fl0”，表示10批數據全被選用。

   不同批次模擬分析中變化參數的名稱。圖中為“Rval”，這就是前面進行RC電路參數掃描分析中的變量參數名。

   參數的變化范圍。圖中為“40 t0 400 0hms”，即為參數掃描分析中設定的Rval變化范圍。

   坐標軸變量名。圖中為The Xaxis will be Rval和The Y axis will depend on the Measurement youuse，即顯示電路性能分析結果時，X軸為變量參數Rval，Y軸取決于將要選用的電路特性值Measurement函數。