【現象描述】

   某產品的I/0信號端口不能通過EFT/B的±2kⅤ測試,分析其電路原理,最后斷定是電路中的某一低速的控制信號線在測試過程中有誤動作現象。 OCH168TWAD測試中,開發人員還無意中更改了該控制信號線上串聯的電阻,即將原來1kΩ改成100Ω(信號線上允許串聯1kΩ的電阻,說明與之相連的芯片信號的輸人端為高阻抗),發現測試就能通過。測量了串聯1kΩ電阻和100Ω電阻信號線所在的信號質量,發現基本一樣。這說明這種抗干擾能力的改進并非信號本身質量改進所致。

   從電路原理上講,電阻串聯在信號線上,具有一定的限流作用,如果這個電流是外部進人產品內部的干擾電流,那么在一定程度上可以降低與此信號互連的芯片引腳上的干擾電壓。另外,電阻還可以與并聯在信號線上的濾波電容一起組成RC濾波電路。如果考慮EMI,那么電阻還可以限制信號線上的EMI電流大小,使產品系統的EMI水平降低。這樣看來,在不影響信號線本身工作狀態的情況下,串聯在信號線上的電阻越大越好。但是為何本案例出現了相反的結果呢?