復雜性:在靜電N76E616AL48放電的情況下,起放電電源是空間電荷,因而它所儲存的能量是有限的,不像外加電源那樣具有持續放電的能力,故它僅能提供短暫發生的局部擊穿能量。雖然靜電放電的能量較小,但其放電波形很復雜,控制起來也比較麻煩。另外,LED極為精細,失效分析難度大,使人容易誤把靜電損傷失效當作其他失效,在對靜電放電損害未充分認識之前,常常歸咎于早期失效或情況不明的失效,從而不自覺地掩蓋了失效的真正原因。

   嚴重性:EsD潛在性失效只引起部分參數劣變,如果不超過合格范圍,就意味著被損傷的LED可能毫無察覺地通過最后測試,導致出現過早期失效,這對各層次的制造商來說,其結果是最損聲譽的。

  EsD以極高的強度很迅速地發生,放電電流流經LED的PN結時,產生的焦耳熱使芯片PN兩極之間局部介質熔融,造成PN結短路或漏電,對失效器件解剖分析,一般在高倍金相顯微鏡下,可以觀察到引起即時的和不可逆轉的損壞擊穿點,但是受到解剖手段和器件封裝材料的限制,經常因為芯片污染或機械損傷等原囚,而不能確定擊穿點。反向放電時,電流較正向放電集中,功率密度大,囚此LED反向放電EsD失效閾值較正向低得多。