能性 可測性沒計(design for testability,dFT)是在微電子芯片產品設計屮加入F先進的測試設計,使得所涉及芯片的制造測試、開發和應用變得更為容易和便宜。OB2268CP

   掃描設計是與組合邏輯設計相關的最常見DFT方法。基本觀念就是它可以透過觸發器構成的電路來控制和觀測電路內部狀態。觸發器就是電路內部的觀察點。

   掃描設汁是通過對電路增加^個有觸發器的測試模式(1es1modc)設計。在沒計L・都采用D觸發器當電路處于測試模式的時候・所有觸發器在功能L串成一個或多個移位暫存器。觸發器的輸人時對適當的插入在組合電路的觀察點L・信號在電路內傳輸的結果可以經由觀察點的移位暫存器瀆出,從而判斷信號在電路內部邏輯傳播錯誤的產隹點) 這些移位暫存器(也稱掃描暫存器)的輸入輸出也可以變成原始的輸入輸出,通過將邏輯狀態設定到 D移位暫存器中的方法,可以設定觸發器的初始值,作為一個輸人值;同樣地,也可以通過將移位暫存器內容瀆 sI出來,而觀察移位暫存器的狀態,作為一個輸出值。