以共模為主的傳導性抗擾度測試有很多,如IEC61O00-4-6或⒙011笱2-7標準規定的傳導抗擾度測試;標準IEC61000-4-4規定的電快速瞬變脈沖群(EFT/B)測試;標準 K524G2GACM-B050規定的線對地浪涌測試;標準⒙011452-4規定的BCI測試、國軍標C,JB152A中規定的CS1Og、CS1I4、CS115、CS116測試。其中標準IEC61OO0-4-4規定的EFT/B和⒙011笱2-4規定的BCI測試是最典型的共模抗擾度測試。K524G2GACM-B050

    這種共模抗擾度測試以共模電壓的形式把干擾疊加到被測產品的各種電源端口和信號端口上,并以共模電流的形式注人到被測產品的內部電路中(產品的機械結構構架對EFT/B共模電流的路徑與大小起著決定性的作用,這部分內容可以參考書籍《電子產品設計EMC風險評估》),或直接以共模電流的形式注人到被測產品的內部電路中,共模電流在產品內部傳輸的過程中,會轉化成差模電壓并干擾內部電路正常工作電壓(產品電路中的工作電壓是差模電壓)。對于單端傳輸信號,如圖1.38所示,當同時注人到信號線和GND地線上的共模干擾信號進人電路時,在IC1的信號的端口處,由于S1與GND所對應的阻抗不一樣(Sl較高,GND較低),共模干擾信號會轉化成差模信號,差模信號存在于S1與GND之間。這樣,干擾首先會對￡1的輸人口產生干擾。濾波電容C的存在,使ICl的第一級輸人受到

保護,即在￡l的輸人信號端口和地之間的差模干擾被C濾除或旁路(如果沒有C的存在,可能干擾就會直接影響E1的輸人信號),然后,大部分會沿著PCB中的低阻抗地層從一端流向另一端,后一級的干擾將會在干擾電流流過地系統時產生(當然這里忽略了串擾的因素,串擾的存在將使干擾電流的路徑復雜化,因此串擾的控制在EMC設計中也是非常重要的一步)。某中,圖1.38中的zOv表示PCB中兩個集成電路之間的地阻抗,σs表示集成電路IGl向集成電路￡2傳遞的信號電壓。

    圖138 共模干擾電流流過地阻抗時產生的壓降