測量場地:屏蔽室(當環境噪聲影響測量結果時使用)、普通的測量間(當環境噪聲不影響測量結果時使用)等。

   其他:接地平板、濾波器K9F2G08UOB-PIB0 (當供電質量影響測量結果時使用)、人工模擬手、調頻調壓源(當供電參數無法滿足測量需求時使用)等。以上所列舉的產品類別及其不同的端口,有些可以直接測量,有些需要通過專用的耦合網絡進行取樣測量,有些可以通過電壓探頭或電流探頭進行取樣測量。GB4824、 GB 13837、 GB 4343.1、 GB 17743、 GB 9254、 GB 17799.3、 GB17799.4等電磁兼容標準都對相應產品的輻射騷擾場強進行限制。不同標準針對的具體產品各不相同,測量的頻率范圍、參數也不相同(電場或磁場),測量方法、限值要求也有差別,但都是對產品向空間輻射電磁騷擾場強大小進行限制,防止對周圍一定范圍內的其他電子電器產晶形成干擾,以保證產品的電磁兼容性胄旨。

   用場強測量的方法來測量產品的輻射發射是一種基本的測量方法。大多數的電子電器產品的輻射發射都用這種方法進行輻射發射測量。部分標準也采用通過測量產品接口線纜對外發射的騷擾功率的方式來間接評估產品對外發射的電磁騷擾。

   電子電器產品輻射騷擾場強一般測量頻率范圍為30~1000MHz(對燈具類產品需進行9kHz~⒛MHz頻率范圍的磁場輻射騷擾測試;對信息技術設備需進行1GHz以上的輻射騷擾測試),測量一般在開闊場、半電波暗室或全電波暗室中,通過天線接收被測樣品的空間電磁騷擾發射的方式來進行。

   輻射騷擾場強測試超標肘問題部位的確定

  設備內的元器件、集成片、印制電路板的走線、有信號電流經過的地方都可能向周圍空間輻射電磁能量,頻率越高就越容易產生電磁輻射3對電子產品來說,其輻射騷擾的主要騷擾來源包括開關電源的開關頻率及諧波騷擾;交流電機的運行噪聲、直流電機的電刷噪聲;電磁感應設備的電磁騷擾;智能控制設備的晶振及數字電路電磁騷擾等。

   數字電路和控制電路的信號工作在方波狀態,其對外發射的騷擾除工作的基頻以外,還存在大量的諧波分量,因此,不能僅考慮其工作基頻的泄漏,還得充分考慮其諧波泄漏:若信號為對稱方波,其諧波能量主要集中在奇次諧波上;若信號為非對稱方波,則其奇次和偶次諧波分量均較大。通常情況下,數字電路的方波上升/下降沿越陡峭,則其諧波分量越大。鑒于現有的數字電路的集成及生產工藝狀況:數字電路工作頻率越低,其波形上升/下降沿越陡峭,其諧波分量也越豐富,且高次諧波分量也較大;數字電路工作頻率越高,其波形上升/下降沿則越平緩,其諧波能量比較集中在低次諧波分量上。通常情況下,數字電路工作在1MHz頻率以下,應考慮的諧波頻率范圍為50次以內的諧波分量;工作在1~3OMHz頻率范圍,應考慮15~30次以內的諧波分量;工作在⒛~300MHz頻率范圍,應考慮7~15次以內的諧波分量;工作在300MHz~1GHz頻率范圍,考慮5~7次以內的諧波分量即可;工作在1GHz以上頻率范圍,考慮3次及3次以內的諧波分量即可。設備內部存在的最高輻射頻率可通過這種方式來確定。