增益相位檢測器AD8302有增益和相位誤差。由于這些誤差的影響無法被z=I//J的比率測量所消除,因此需要通過其他手段來對誤差進行補償。為了補償增益誤差,雙DDS芯片通過編程來產生不同振幅的信號。在校正過程中,DDSl(σDDs1)的輸出信號直接連接到增益相位檢測器AD83Ⅱ的輸人端A上。

AS3933-BTST

    對于不同的振幅比σDDs2/σDDsl進行重復測量,其測量結果以線性最小二次方擬合的方式來獲得增益相位檢測器的增益斜率精確值σdpM。類似的校正方法也適用于相位輸出信號的校正。

   除了對增益相位檢測器AD83∞進行校正,還可利用開路/短路進行信號補償,其主要是補償測量電路中寄生串并聯阻抗的影響。依據阻抗的大小,通過校正和補償技術,測量中的誤差顯著減小。測量實驗通過利用現有的接口電路系統在已校正過的分離器件上進行。結果顯示當測量一個容量為33pF的電容Cx時,⒛Ω的低并聯電阻Rx在電容Cx的測量中所引起的誤差總計小于1pF(3%)。當

測量1kΩ的并聯電阻Rx時,其誤差小于1.1%。最終,水-酒精混合溶液的測量實驗顯示該接口電路系統適用于相對誤差1.5%以下的含水量測量。

   對于應用在含水量檢測的專用傳感器系統的例子研究顯示,從物理原因角度為什么必須在更高頻率下進行測量是十分必要的,同時也展示了這些更高的頻率如何產生新的相關的物理問題,比如趨膚效應和鄰近效應,以及寄生電感。此外,對于電路設計者來說也面臨著挑戰,即設計者們如何通過校正和補償技術來提高電路的精確度。