對匹配鏈所處位置和另外失配隨機序列位置
發布時間:2019/4/29 21:15:54 訪問次數:1747
圖6.14給出了一個陣列中的兩個位置點的測試結果,其中一個為匹配的DNA鏈,另一個為失配的隨機序列。當基底材料注人到芯片后(圖6.14中的陰影區域),傳感器電極上所探測到的電流與酶標記的初始產生電荷和傳感器電極上氧化還原反應所貢獻的總和。達到一定時間后,在攜帶匹配DNA鏈的特定位置所產生的電化學活性物質與持續流動導致芯片上被洗掉的數量達到一個平衡,此時測得電流數值不再增加。
圖614 同一陣列中,對匹配鏈所處位置和另外失配隨機序列位置,分別測量得到的傳感器氧化-還原電流及電流對時間導數的變化曲線(傳感器區域的直徑=笏0um,電極寬度和間距=1um) 其他位置的雙鏈DNA所產生的一部分電化學活性物質,也會被注人到沒有經過雜交的靶鏈所在的位置,在這種情況下,我們在這種失配的位置也會得到一定量的電流。這種現象可以被理解為電化學噪聲c在最后測量階段,(圖6,14中灰色區域,時間硐~50s之間)泵停止工作。此時,匹配位置電化學活性微粒的濃度可以進一步增加而不被沖走,而失配位置電化學活性微粒的數量由于擴散過程而減少。出于這個原因,通常對傳感器電流隨時間變化的斜率進行測量,而不是關心其絕對值。由圖也可以明顯地看出,在匹配鏈所處的區域電流斜率這個參數其數值增長明顯,而位置失配情況的區域,不僅出現了數值減少,而且正負也發生了變化。我們可以看到,在這個例子中使用的傳感器為直徑笏0um的圓形,電極寬度和間距均為1um,所評估的電參數,即相關的電流及其斜率分別在正負幾十nA和正負幾nA/s的量級。
圖6.14給出了一個陣列中的兩個位置點的測試結果,其中一個為匹配的DNA鏈,另一個為失配的隨機序列。當基底材料注人到芯片后(圖6.14中的陰影區域),傳感器電極上所探測到的電流與酶標記的初始產生電荷和傳感器電極上氧化還原反應所貢獻的總和。達到一定時間后,在攜帶匹配DNA鏈的特定位置所產生的電化學活性物質與持續流動導致芯片上被洗掉的數量達到一個平衡,此時測得電流數值不再增加。
圖614 同一陣列中,對匹配鏈所處位置和另外失配隨機序列位置,分別測量得到的傳感器氧化-還原電流及電流對時間導數的變化曲線(傳感器區域的直徑=笏0um,電極寬度和間距=1um) 其他位置的雙鏈DNA所產生的一部分電化學活性物質,也會被注人到沒有經過雜交的靶鏈所在的位置,在這種情況下,我們在這種失配的位置也會得到一定量的電流。這種現象可以被理解為電化學噪聲c在最后測量階段,(圖6,14中灰色區域,時間硐~50s之間)泵停止工作。此時,匹配位置電化學活性微粒的濃度可以進一步增加而不被沖走,而失配位置電化學活性微粒的數量由于擴散過程而減少。出于這個原因,通常對傳感器電流隨時間變化的斜率進行測量,而不是關心其絕對值。由圖也可以明顯地看出,在匹配鏈所處的區域電流斜率這個參數其數值增長明顯,而位置失配情況的區域,不僅出現了數值減少,而且正負也發生了變化。我們可以看到,在這個例子中使用的傳感器為直徑笏0um的圓形,電極寬度和間距均為1um,所評估的電參數,即相關的電流及其斜率分別在正負幾十nA和正負幾nA/s的量級。
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