通過壽命試驗可以評價產品的可靠性水平,了解產品失效分布規律和失效模式。通過對失效機理的分析,可以找出產品的失效原因,以便采取有效的改進措施,提高產品的可靠性水平。不同的電子產品,其壽命分布規律是不同的,有些產品的壽命服從指數分布,有些產品的壽命分布服從威布爾分布,有些產品的壽命分布服從對數正態分布。為了方便起見,往往假定產品服從指數分布,據此進行試驗設計并開展壽命試驗。

OPA2354AIDGKR

    任何設計合理、工藝成熟、質量控制嚴格的生產線上生產出來的產品都具有一定的可靠性,這類產品通過嚴格的工藝篩選剔除掉早期失效產品后,便進入偶爾失效期。在這段時期內,產品的壽命分布接近指數分布,即失效率雙莎)接近于常數。這是產品在實際使中較長的一段時期。指數分布的假設與某些元件的使用壽命和試驗結果比較接近。實踐也表明,即使不少元件的壽命是服從威布爾分布的,但當形狀參數為1時,威布爾分布就變成指數分布了。在指數分布的情形下,產品可靠性特征量表達簡單,只要掌握了產品的失效率就可以知道產品的全部分布特性,因此,可以利用它作為產品實際分布的一種近似。