測試技術的發展趨勢G3MB-202P-12V

   由于微波電路及其組件的特殊性,目前尚缺乏通用的測試系統,業界通常采用矢量網絡分析儀、功率計等測試儀表搭建專用測試系統,同時根據產品特點設計測試夾具,開展參數測試。在實際測試中,測試儀表及測試夾具都會對測試結果造成一定的影響,需要對測試儀表進行計量校準,對夾具進行“去嵌入”,以獲得準確的微波特性參數。測試不同類型微波器件時都需要重新設計測試夾具,有針對性地搭建測試系統并進行校準,耗費大量人力物力,同時時間周期也相對較長。

   為解決這一問題,射頻微波測試技術不斷往通用化方向發展。以測試夾具為例,成本低、可拆卸性強、重復性好、能夠滿足不同尺寸和抽頭位置的微波通用測試夾具已逐漸在成為業界主流。如何改進夾具的設計、工藝和材料,提高其使用次數,同時有效消除測試過程中的自激振蕩現象,是未來測試夾具研究的重點。微波測試儀表目前發展方向主要是寬帶化、多參數化,即在盡可能寬的頻段范圍內通過單次連接完成多參數測試,以滿足不同應用領域、不同類型產品的測試需求。現階段主要利用多個測試通道來實現多參數羊發測試,如何減小測試通道切換對測試結果的影響以及相互通道間的信號干擾是現階段關注的重點。