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串音參數測試

發布時間:2019/7/2 21:11:04 訪問次數:1751

   串音參數測試

   1.參數定義H5MS5162EFR-J3M

   由于像元對相鄰像元的串擾,相鄰像元引起的信號/N:與本像元信號/Lc之百分比為該像元對相鄰像元的串音,符號為CT,單位為%。

   測試時在黑體后加裝光學系統,使黑體輻射到探測器的一個像元上,同時測量這個像元與其他像元的電平差異,并計算其他像元與被輻射像元電平值的百分比,即為探測器的串音。

   2.測試方法

   串音測試系統如圖10J所示,整個串音測試系統主要由小光點系統、被測器件、微動臺及電子電路等部分組成,且要求:

   (a)紅外小光點直徑必須小于焦平面像元尺寸,保證小光點只照到一個像元;

   (b)微動臺定位誤差,需小于焦平面像元尺寸的1/10。

   


   串音參數測試

   1.參數定義H5MS5162EFR-J3M

   由于像元對相鄰像元的串擾,相鄰像元引起的信號/N:與本像元信號/Lc之百分比為該像元對相鄰像元的串音,符號為CT,單位為%。

   測試時在黑體后加裝光學系統,使黑體輻射到探測器的一個像元上,同時測量這個像元與其他像元的電平差異,并計算其他像元與被輻射像元電平值的百分比,即為探測器的串音。

   2.測試方法

   串音測試系統如圖10J所示,整個串音測試系統主要由小光點系統、被測器件、微動臺及電子電路等部分組成,且要求:

   (a)紅外小光點直徑必須小于焦平面像元尺寸,保證小光點只照到一個像元;

   (b)微動臺定位誤差,需小于焦平面像元尺寸的1/10。

   


相關IC型號
H5MS5162EFR-J3M
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