導電高分子固態黑金剛混合型電容的特點
發布時間:2020/11/14 12:01:44 訪問次數:1002
過采樣技術在Σ-Δ ADC架構設計中有很長的歷史。Σ-Δ ADC由Σ調制器和隨后的數字信號算法模塊(或數字濾波器)構成。Σ調制器可以小至一位量化器,用以采集成千上萬的樣本,然后對這些樣本進行抽取以實現高分辨率轉換結果。參與平均的樣本越多,可獲得的分辨率越高,因而轉換結果越接近于采樣值。常見的Σ-Δ應用有溫度監視和電子秤測量系統。
Σ-Δ ADC架構依賴于以比目標帶寬高得多的速率對較小電荷進行采樣。它采集的樣本更多,但每次獲取的電荷更小。典型Σ-Δ ADC的過采樣范圍介于目標信號的32倍至1000倍之間。過采樣與噪聲整形(調制方案)相結合的結果將帶內噪聲移到目標帶寬之外。移至更高帶寬的噪聲隨后通過數字濾波濾除。結果是目標帶寬中的噪聲更低且分辨率更高。Σ-Δ ADC的每次轉換結果都是較小但更頻繁的采樣事件所產生的。
NIPPON CHEMI-CON的主要產品包括鋁電解電容,導電高分子固態電容,混合型鋁電解電容,多層陶瓷電容,薄膜電容,陶瓷壓敏電阻,超級電容等。
鋁電解電容的特點:
分為貼片型,引線型,基板自立型(牛角電容),螺絲端子型;
常規品范圍在105℃~150℃, 1,000小時- 12000小時壽命保證,額定電壓范圍:4V~700V;
尺寸范圍最小規格貼片型電容φ4*5.2L,容量范圍從0.1uF~680000uF。
導電高分子固態電容(貼片+引線)的特點:
高分子材料并結合傳統電容的結構制式的柱狀電容具有超高導電性(超低ESR,高紋波),導熱性,高容量,低阻抗長壽命的高可靠性;
電壓范圍2.5V~25V,容量范圍10uF~2200uf,壽命最高長達20000h;
回流焊CV值較低,良率高。
黑金剛混合型電容(貼片+引線)、多層陶瓷電容器(MLCC)、壓敏電阻TNR性能及特點,NCC黑金剛混合/固態/鋁電解/陶瓷電容,不燃壓敏電阻,20000h長壽命,150℃耐高溫,10mΩ低ESR.
SAR ADC利用逐次逼近來確定結果。SAR ADC通過逐步方法來確定數字表示的每個比特在單個采樣瞬間是什么。SAR采樣電荷再分配電容和數模轉換器(DAC)陣列。采樣數據與每個二進制加權電容陣列進行比較。二進制加權電容的總數決定了SAR ADC的位數或分辨率。轉換過程由高速內部時鐘和容性DAC陣列控制,能夠快速轉換變化的信號。SAR ADC用于需要寬帶寬的數據采集系統。
SAR ADC通常轉換單個時刻,以提供與特定時刻有關的數字答案。過采樣的使用隨著更快速SAR轉換器的出現而增加,目的是提高關鍵目標帶寬的分辨率。在當今使用過采樣技術的SAR ADC中,該技術常常是通過微控制器或現場可編程門陣列(FPGA)上的后處理執行的。
過采樣技術在Σ-Δ ADC架構設計中有很長的歷史。Σ-Δ ADC由Σ調制器和隨后的數字信號算法模塊(或數字濾波器)構成。Σ調制器可以小至一位量化器,用以采集成千上萬的樣本,然后對這些樣本進行抽取以實現高分辨率轉換結果。參與平均的樣本越多,可獲得的分辨率越高,因而轉換結果越接近于采樣值。常見的Σ-Δ應用有溫度監視和電子秤測量系統。
Σ-Δ ADC架構依賴于以比目標帶寬高得多的速率對較小電荷進行采樣。它采集的樣本更多,但每次獲取的電荷更小。典型Σ-Δ ADC的過采樣范圍介于目標信號的32倍至1000倍之間。過采樣與噪聲整形(調制方案)相結合的結果將帶內噪聲移到目標帶寬之外。移至更高帶寬的噪聲隨后通過數字濾波濾除。結果是目標帶寬中的噪聲更低且分辨率更高。Σ-Δ ADC的每次轉換結果都是較小但更頻繁的采樣事件所產生的。
NIPPON CHEMI-CON的主要產品包括鋁電解電容,導電高分子固態電容,混合型鋁電解電容,多層陶瓷電容,薄膜電容,陶瓷壓敏電阻,超級電容等。
鋁電解電容的特點:
分為貼片型,引線型,基板自立型(牛角電容),螺絲端子型;
常規品范圍在105℃~150℃, 1,000小時- 12000小時壽命保證,額定電壓范圍:4V~700V;
尺寸范圍最小規格貼片型電容φ4*5.2L,容量范圍從0.1uF~680000uF。
導電高分子固態電容(貼片+引線)的特點:
高分子材料并結合傳統電容的結構制式的柱狀電容具有超高導電性(超低ESR,高紋波),導熱性,高容量,低阻抗長壽命的高可靠性;
電壓范圍2.5V~25V,容量范圍10uF~2200uf,壽命最高長達20000h;
回流焊CV值較低,良率高。
黑金剛混合型電容(貼片+引線)、多層陶瓷電容器(MLCC)、壓敏電阻TNR性能及特點,NCC黑金剛混合/固態/鋁電解/陶瓷電容,不燃壓敏電阻,20000h長壽命,150℃耐高溫,10mΩ低ESR.
SAR ADC利用逐次逼近來確定結果。SAR ADC通過逐步方法來確定數字表示的每個比特在單個采樣瞬間是什么。SAR采樣電荷再分配電容和數模轉換器(DAC)陣列。采樣數據與每個二進制加權電容陣列進行比較。二進制加權電容的總數決定了SAR ADC的位數或分辨率。轉換過程由高速內部時鐘和容性DAC陣列控制,能夠快速轉換變化的信號。SAR ADC用于需要寬帶寬的數據采集系統。
SAR ADC通常轉換單個時刻,以提供與特定時刻有關的數字答案。過采樣的使用隨著更快速SAR轉換器的出現而增加,目的是提高關鍵目標帶寬的分辨率。在當今使用過采樣技術的SAR ADC中,該技術常常是通過微控制器或現場可編程門陣列(FPGA)上的后處理執行的。
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