anritsu公司近日更新其高精確度的通用型測量儀器ms269xa系列，增加3d頻譜分析儀功能、混附波發射量測、相位雜訊量測與am/fm量測等四項新功能，以支援更有效率的研究發展與無線系統的疑難排解。

　　anritsu高性能信號分析儀ms269xa系列可量測頻率為50hz至6ghz，其3d頻譜分析儀功能提供了頻率與信號強度對時間的3d變化資訊，最大擷取頻寬高達125mhz，可穩定地檢查突發信號和瞬時干擾信號。其相位雜訊量測范圍從100hz到1mhz，與以往儀器約每1分鐘量測10個相位雜訊相較，新型ms269xa系列約每3秒便能囊括相同測試。

　　此外，該系列還提供混附波發射量測功能以支援高速混附波測試，根據設定的審驗標準，可直接在螢幕上顯示pass或fail。在混附波測試要求越嚴格的數位系統里，進行測試時需要整合高性能且昂貴的濾波器和放大器。不過這樣的窘境已經改觀，ms269xa系列擁有極佳的動態范圍，使得整合低成本濾波器和放大器的混附波量測變成可能。

　　am變化和fm偏移測量一直很難在one-touch功能中展現，而anritsu高性能信號分析儀的am量測包含了最大、最小和平均功率，而fm量測數據包含高頻和低頻的限制，以及平均頻率，使得量測am/fm無線電設備只要one-touch就可實現。