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千兆高速采集系統的硬件電路設計

發布時間:2007/8/20 0:00:00 訪問次數:479

電子科技大學 胡明武 丁慶生 向榮

1 ADC08D1000的結構

ADC08D1000是NS(National Semiconductor,國家半導體)公司于2005年推出的雙通道低功耗的高速8位A/D轉換器,其最高單通道采樣頻率達1.3 GHz,全功率帶寬(FPBW)為1.7 GHz,在500 MHz標準信號輸入的情況下可以獲得7.4位的有效采樣位數。整個A/D轉換器用單電源1.9 V供電,內帶高質量參考源和高性能采樣保持電路,每個通道均為差分輸入,采樣范圍可選為650 mV或870 mV(峰-峰值)。在高速數/模轉換系統中,有兩大難點:一個是數/模轉換器輸出信號的完整性,另一個是輸出信號的速度太高。這兩個難點在ADC08D1000上都得到了比較好的解決。


為了提高數字輸出信號的完整性,降低電源功耗,該A/D轉換器采用了低電壓差分傳輸(LVDS)技術來傳送高速數/模轉換器的輸出信號,接收端電壓的擺幅極小,僅有350 mV,這樣就可以用更短的翻轉時間,使傳輸信號的頻率進一步提高。雖然電壓擺幅很小,但由于是差分信號,只要電路走線得當,就可以極大地抑制共模噪聲,得到比TTL/CMOS電平傳輸更好的抗干擾效果和更低的輻射噪聲。


為了降低輸出信號的速度,該A/D轉換器采取了增加輸出信號帶寬,降低輸出信號速度的做法。為了實現這種做法,在數/模轉換器內部有一個2路分配器(DE-MUX),將2個采樣點的數據分配到2個8位總線上,然后每2個采樣周期輸出1次16位數據。由于采用了這種辦法,數據傳輸率會降低一半,但每次接收的數據位數會增加1倍。以1 GHz的采樣率為例,模/數轉換器的輸出不再是以1 GHz的速率輸出8位數據,而是以500 MHz的速度輸出16位的數據。此外,該A/D轉換器還提供了雙倍數據傳輸率(DDR)技術,可以利用時鐘的上升及下降沿將數據送至輸出端,這樣可以進一步降低傳輸的時鐘頻率。在本系統設計中,對于與A/D轉換器接口比較高端的FPGA,其LVDS接收器能夠接收500 MHz的時鐘頻率,所以未采用DDR方式;對于一些低端的FPGA,最好采用DDR方式。



ADC08D1000結構框圖如圖1所示。


2 硬件電路設計


2.1 A/D轉換器外圍電路設計


A/D轉換器的外圍電路設計如圖2所示。



該A/D轉換器的模擬信號輸入(包括采樣時沖和2路采樣信號),最好采用差分輸入而不是單端輸入,這對最后的性能影響很大。如果被采樣的信號經過前端的濾波和放大(限幅)電路,最后進入采集系統的是單端信號,這時可以將單端信號變成差分信號。為了將單端信號變成差分信號,設計中采用了BALUN(非平衡變壓器,型號是ETC1-1-13),如圖3所示,其工作范圍是4.5~3000MHz,傳輸比是1:1。電路如圖4所示,5腳是BALUN輸入,1腳是輸出正端,3腳是輸出負端,分別將差分信號接到A/D轉換器對應的差分輸入端。由于ADC08D1000的差分輸入阻抗是100 ,所以在BALUN的差分輸出上接了100 的電阻,將BALUN的輸出阻抗轉換為50 的差分阻抗。



該A/D轉換器的控制接口有兩種:一種是將相應的控制引腳接固定電平的簡單控制,在這種模式下不能使用時鐘雙邊沿送數;另一種是基于SPI口的復雜控制,可以在這種控制模式下使用該A/D轉換器的所有功能。兩種控制的接口電路都比較常見。值得一提的是,這塊A/D轉換器可以對其模擬接口的輸入阻抗進行校正,使偏移誤差、增益誤差和線性誤差被降至最低。方法是在REXT腳上串聯一個3.3 k 的電阻到地,在校正時,REXT腳對地電阻的1/33將被用作輸入阻抗,所以對這個電阻的精度要求很高,可以考慮用精度0.1%的精密電阻。(精度最好不要低于1%)。



2.2 與FPGA數據接口電路


A/D轉換器的數據輸出是用的34對LVDS線進行傳輸,其中有2個16位的數據通道、1個輸出數據鎖存時鐘和1個溢出標志(這個溢出標志在2個通道的任何一個采集數據超出范圍時有效。)


LVDS的部分

電子科技大學 胡明武 丁慶生 向榮

1 ADC08D1000的結構

ADC08D1000是NS(National Semiconductor,國家半導體)公司于2005年推出的雙通道低功耗的高速8位A/D轉換器,其最高單通道采樣頻率達1.3 GHz,全功率帶寬(FPBW)為1.7 GHz,在500 MHz標準信號輸入的情況下可以獲得7.4位的有效采樣位數。整個A/D轉換器用單電源1.9 V供電,內帶高質量參考源和高性能采樣保持電路,每個通道均為差分輸入,采樣范圍可選為650 mV或870 mV(峰-峰值)。在高速數/模轉換系統中,有兩大難點:一個是數/模轉換器輸出信號的完整性,另一個是輸出信號的速度太高。這兩個難點在ADC08D1000上都得到了比較好的解決。


為了提高數字輸出信號的完整性,降低電源功耗,該A/D轉換器采用了低電壓差分傳輸(LVDS)技術來傳送高速數/模轉換器的輸出信號,接收端電壓的擺幅極小,僅有350 mV,這樣就可以用更短的翻轉時間,使傳輸信號的頻率進一步提高。雖然電壓擺幅很小,但由于是差分信號,只要電路走線得當,就可以極大地抑制共模噪聲,得到比TTL/CMOS電平傳輸更好的抗干擾效果和更低的輻射噪聲。


為了降低輸出信號的速度,該A/D轉換器采取了增加輸出信號帶寬,降低輸出信號速度的做法。為了實現這種做法,在數/模轉換器內部有一個2路分配器(DE-MUX),將2個采樣點的數據分配到2個8位總線上,然后每2個采樣周期輸出1次16位數據。由于采用了這種辦法,數據傳輸率會降低一半,但每次接收的數據位數會增加1倍。以1 GHz的采樣率為例,模/數轉換器的輸出不再是以1 GHz的速率輸出8位數據,而是以500 MHz的速度輸出16位的數據。此外,該A/D轉換器還提供了雙倍數據傳輸率(DDR)技術,可以利用時鐘的上升及下降沿將數據送至輸出端,這樣可以進一步降低傳輸的時鐘頻率。在本系統設計中,對于與A/D轉換器接口比較高端的FPGA,其LVDS接收器能夠接收500 MHz的時鐘頻率,所以未采用DDR方式;對于一些低端的FPGA,最好采用DDR方式。



ADC08D1000結構框圖如圖1所示。


2 硬件電路設計


2.1 A/D轉換器外圍電路設計


A/D轉換器的外圍電路設計如圖2所示。



該A/D轉換器的模擬信號輸入(包括采樣時沖和2路采樣信號),最好采用差分輸入而不是單端輸入,這對最后的性能影響很大。如果被采樣的信號經過前端的濾波和放大(限幅)電路,最后進入采集系統的是單端信號,這時可以將單端信號變成差分信號。為了將單端信號變成差分信號,設計中采用了BALUN(非平衡變壓器,型號是ETC1-1-13),如圖3所示,其工作范圍是4.5~3000MHz,傳輸比是1:1。電路如圖4所示,5腳是BALUN輸入,1腳是輸出正端,3腳是輸出負端,分別將差分信號接到A/D轉換器對應的差分輸入端。由于ADC08D1000的差分輸入阻抗是100 ,所以在BALUN的差分輸出上接了100 的電阻,將BALUN的輸出阻抗轉換為50 的差分阻抗。



該A/D轉換器的控制接口有兩種:一種是將相應的控制引腳接固定電平的簡單控制,在這種模式下不能使用時鐘雙邊沿送數;另一種是基于SPI口的復雜控制,可以在這種控制模式下使用該A/D轉換器的所有功能。兩種控制的接口電路都比較常見。值得一提的是,這塊A/D轉換器可以對其模擬接口的輸入阻抗進行校正,使偏移誤差、增益誤差和線性誤差被降至最低。方法是在REXT腳上串聯一個3.3 k 的電阻到地,在校正時,REXT腳對地電阻的1/33將被用作輸入阻抗,所以對這個電阻的精度要求很高,可以考慮用精度0.1%的精密電阻。(精度最好不要低于1%)。



2.2 與FPGA數據接口電路


A/D轉換器的數據輸出是用的34對LVDS線進行傳輸,其中有2個16位的數據通道、1個輸出數據鎖存時鐘和1個溢出標志(這個溢出標志在2個通道的任何一個采集數據超出范圍時有效。)


LVDS的部分

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