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更換FET時的高頻特性

發布時間:2012/8/16 19:44:00 訪問次數:1067

    為了分析FET高頻特性劣LM723CN化的原因,我們測定同一電路中僅僅更換FET時的頻率特性。
    圖3.19是圖3.1電路中用2SK241替換2SK184GR時的高頻特性。這種高頻放大用FET的頻率特性優良,截止頻率為15. 2MHz,約是2SK184酌3倍。
    圖3.20是圖3.1電路中采用功率開關用N溝MOSFET 2SK612( NEC)時的高頻特性。電壓增益出現了峰值,fe。為800kHz處的值降低。但是這是僅僅更換了FET的情況,如果重新設置工作點,還可以得到改善。
    在高頻范圍電壓增益下降的原因,如照片3.8所示主要是由于裝機時裝配不當,使高頻特性受到影響。
    為了改善高頻特性,在實際裝機時布線要短,盡量降低GND的高頻阻抗,并且要采用屏蔽罩。
    此外,與使用雙極晶體管時情況相同,米勒現象也會使高頻特性下降。

             

    為了分析FET高頻特性劣LM723CN化的原因,我們測定同一電路中僅僅更換FET時的頻率特性。
    圖3.19是圖3.1電路中用2SK241替換2SK184GR時的高頻特性。這種高頻放大用FET的頻率特性優良,截止頻率為15. 2MHz,約是2SK184酌3倍。
    圖3.20是圖3.1電路中采用功率開關用N溝MOSFET 2SK612( NEC)時的高頻特性。電壓增益出現了峰值,fe。為800kHz處的值降低。但是這是僅僅更換了FET的情況,如果重新設置工作點,還可以得到改善。
    在高頻范圍電壓增益下降的原因,如照片3.8所示主要是由于裝機時裝配不當,使高頻特性受到影響。
    為了改善高頻特性,在實際裝機時布線要短,盡量降低GND的高頻阻抗,并且要采用屏蔽罩。
    此外,與使用雙極晶體管時情況相同,米勒現象也會使高頻特性下降。

             

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