100個器件樣本貼裝偏差頻次分布
發布時間:2012/9/25 19:21:58 訪問次數:795
美國、西歐數字機床精度測N450CH26試標準中常采用數理統計學的方法,即以貼片質量的特性分布描述貼片機的貼片精度,它可用平均值(u)與標準偏差來表征。具體做法是:選定某個樣本器件(有條件時以玻璃平板取代PCB),沿X軸(或y軸)貼裝一定數量的器件,并記錄器件與X/Y中心位置的偏差值,在收集大量數據后可對AX/Ay進行統計分析,最終確定貼片機的貼片精度,可參見11.4.2節中有關IPC-11850貼片機驗收標準。在統計分析中首先利用直方圖對數據進行加工整理,找出其統計規律,即分析數據分布的形態以便對其總體的分布特征進行統計推斷。通常采集的數據不應小于50個,現舉例如下。
在PCB標準樣板上沿X軸線貼裝100個1608片式電容樣本。從數據中找出最大值和最小值(/max=300.0,Smi=200.0),數據稱為數據的散布范圍,記為B,采集數據在B內變動,B=(300,200),確定數據的大致分組數K的取值范圍如表11.1所示。
計算各組上、下限,首先確定第一組下限值,應使S包含在第一組中,再計算各組中心值,數據整理后分別歸并到各區組,清點各區組偏差器件的頻次數,總頻次數應與計量總數據相等,如表11.2所示。
從表11.2中可清楚地看出偏差測量值的集聚和離散趨勢。為直觀地表示貼裝偏差分布情況,根據表11.2的數據繪出直方圖,如圖11.47所示。
在圖11.47中,橫坐標為貼裝偏差值X,縱坐標為發生頻次數。直方圖中間高兩邊低,左右對稱,這種分布規律稱為正態分布,即正常狀態下的分布。
美國、西歐數字機床精度測N450CH26試標準中常采用數理統計學的方法,即以貼片質量的特性分布描述貼片機的貼片精度,它可用平均值(u)與標準偏差來表征。具體做法是:選定某個樣本器件(有條件時以玻璃平板取代PCB),沿X軸(或y軸)貼裝一定數量的器件,并記錄器件與X/Y中心位置的偏差值,在收集大量數據后可對AX/Ay進行統計分析,最終確定貼片機的貼片精度,可參見11.4.2節中有關IPC-11850貼片機驗收標準。在統計分析中首先利用直方圖對數據進行加工整理,找出其統計規律,即分析數據分布的形態以便對其總體的分布特征進行統計推斷。通常采集的數據不應小于50個,現舉例如下。
在PCB標準樣板上沿X軸線貼裝100個1608片式電容樣本。從數據中找出最大值和最小值(/max=300.0,Smi=200.0),數據稱為數據的散布范圍,記為B,采集數據在B內變動,B=(300,200),確定數據的大致分組數K的取值范圍如表11.1所示。
計算各組上、下限,首先確定第一組下限值,應使S包含在第一組中,再計算各組中心值,數據整理后分別歸并到各區組,清點各區組偏差器件的頻次數,總頻次數應與計量總數據相等,如表11.2所示。
從表11.2中可清楚地看出偏差測量值的集聚和離散趨勢。為直觀地表示貼裝偏差分布情況,根據表11.2的數據繪出直方圖,如圖11.47所示。
在圖11.47中,橫坐標為貼裝偏差值X,縱坐標為發生頻次數。直方圖中間高兩邊低,左右對稱,這種分布規律稱為正態分布,即正常狀態下的分布。
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