電氣性能的可測試性要求
發布時間:2014/5/7 21:02:03 訪問次數:652
為了確保電氣性能的可測試性,V23100V4312B000測試點設計主要有如下要求。
①PCB上可設置若干個測試點,這些測試點可以是孔或焊盤。
②測試孔設置的要求與再流焊導通孔要求相同。
③測試焊盤表面與表面組裝焊盤具有相同的表面處理。
④要求盡量將元件面(主面)的SMC/SMD測試點通過過孔引到焊接面,過孔直徑應大于Imm。這樣可以通過在線測試采用單面針床來進行,避免兩面用針床測試,從而降低在線測試成本。
⑤每個電氣結點都必須有一個測試點,每個lC必須有電源(power)及地(ground)的測試點,測試點盡可能接近此lC器件,最好在距離lC 2.54mm范圍內。
⑥在電路的導線上設置測試點時,可將其寬度放大到40mil。
⑦將測試點均衡地分布在印制板上。如果探針集中在某一區域,較高的壓力會使待測板或
針床變形,嚴重時會造成部分探針不能接觸到測試點。
⑧電路板上的供電線路應分區域設置測試斷點,以便于電源去耦電容或電路板上的其他元器件出現對電源短路時,更為快捷準確地查找故障點。設計斷點時,應考慮恢復測試斷點后的功率承載能力。
⑨探針測試支撐導通孔和測試點。采用在線洌試時,探針測試支撐導通孔和測試點與焊盤相連時,可從布線的任意處引出,但應注意以下幾點。
●要注意不同直徑的探針進行自動在線測試(ATE)時的最小間距。
●導通孔不能選在焊盤的延長部分。
●測試點不能選擇在元器件的焊點上。這種測試可能使虛焊點在探針壓力作用下擠壓到理想位置,從而使虛焊故障被掩蓋;另外,可能使探針直接作用于元器件的端點或引腳上而造成元器件損壞。測試點設置如圖5-66所示。
探針測試盤直徑一般不小于0.9mm。
測試盤周圍最小間隙,等于相鄰元件高度的80%,最小間隙為0.6mm(見圖5-67)。
在PCB有探針的一面,零件高度不超過5.7mm。若超過5.7mm,測試工裝必須讓位,避開高元件,測試焊盤必須遠離高元件Smm。金手指不作為測試點,以免造成損壞。
為了確保電氣性能的可測試性,V23100V4312B000測試點設計主要有如下要求。
①PCB上可設置若干個測試點,這些測試點可以是孔或焊盤。
②測試孔設置的要求與再流焊導通孔要求相同。
③測試焊盤表面與表面組裝焊盤具有相同的表面處理。
④要求盡量將元件面(主面)的SMC/SMD測試點通過過孔引到焊接面,過孔直徑應大于Imm。這樣可以通過在線測試采用單面針床來進行,避免兩面用針床測試,從而降低在線測試成本。
⑤每個電氣結點都必須有一個測試點,每個lC必須有電源(power)及地(ground)的測試點,測試點盡可能接近此lC器件,最好在距離lC 2.54mm范圍內。
⑥在電路的導線上設置測試點時,可將其寬度放大到40mil。
⑦將測試點均衡地分布在印制板上。如果探針集中在某一區域,較高的壓力會使待測板或
針床變形,嚴重時會造成部分探針不能接觸到測試點。
⑧電路板上的供電線路應分區域設置測試斷點,以便于電源去耦電容或電路板上的其他元器件出現對電源短路時,更為快捷準確地查找故障點。設計斷點時,應考慮恢復測試斷點后的功率承載能力。
⑨探針測試支撐導通孔和測試點。采用在線洌試時,探針測試支撐導通孔和測試點與焊盤相連時,可從布線的任意處引出,但應注意以下幾點。
●要注意不同直徑的探針進行自動在線測試(ATE)時的最小間距。
●導通孔不能選在焊盤的延長部分。
●測試點不能選擇在元器件的焊點上。這種測試可能使虛焊點在探針壓力作用下擠壓到理想位置,從而使虛焊故障被掩蓋;另外,可能使探針直接作用于元器件的端點或引腳上而造成元器件損壞。測試點設置如圖5-66所示。
探針測試盤直徑一般不小于0.9mm。
測試盤周圍最小間隙,等于相鄰元件高度的80%,最小間隙為0.6mm(見圖5-67)。
在PCB有探針的一面,零件高度不超過5.7mm。若超過5.7mm,測試工裝必須讓位,避開高元件,測試焊盤必須遠離高元件Smm。金手指不作為測試點,以免造成損壞。