分割測試法，對于一些有反饋REF3312AIDBZR回路的故障判斷是比較困難的，如振蕩器、帶各種類型反饋的放大器，因為它們各級的工作情況互相牽連，查找故障時需把反饋環踣斷開，接入一個合適信號，使電路成為開環系統，然后再逐級查找發生故障的部分。

     對半分割法，當電路由若干串聯模塊組成時，可將其分割成兩個相等的部分（對半分割），通過測試的方法先判斷這兩部分中究竟哪一部分有故障，然后把有故障的部分再分成兩半來進行檢查，直到找出故障位置。顯然，采用對半分割法可減少調試的工作量。

       替代法，用經過調試且工作正常的單元電路，代替相同的但存在故障或有疑問的相應電路，以便很快判斷故障的部位。有些元器件的故障往往不很明顯，如電容器的漏電，電阻的變質、晶體管和集成電路的性能下降等，可用相同規格的優質元器件逐一替代，從而可很快地確定有故障的元器件。

      應當指出，為了迅速查找電路的故障，可根據具體情況靈活運用上述一種或幾種方法，切不可盲目檢測，否則不但不能找出故障，反而可能引出新的故障。