應采用等效于圖4-154的試驗電路,產生如圖4-155所示的波形,進行分級試驗。GC47668-192AP每個器件在試驗前和試驗期間都應處于室溫下。器件的ESD分級試驗是破壞性試驗。

   l)EsD模擬電流波形驗證

   進行EsD試驗時至少應在每個班次開始時,或在改換插座、電路板的情況下,在試驗前(取先發生的情況)都需要檢查電流波形,以便保證模擬器件正常工作。如果模擬器件不符合所有要求,那么從上一次驗證合格后,進行的所有分類試驗都應重新進行。在最初設施的驗證和以后再驗證時,應按下列要求對觀察到的波形進行存檔,以便檢查和比較。

   (1)把被測器件(DUT)插座接到模擬器上。插座上不放DUT。在DUT插座的兩個引線孔間插一個短路片(?�图�?54),短??片的一端接到模擬器A端,另一端接到B端。

   (2)把電流探測器接到短路片的B端附近(見圖4-154),按表421第五檔的要求使模擬器充電電壓岷為80OOV。

   (3)觸發一個模擬器脈沖,觀察電流波形前沿,電流波形的上升時間、峰值及減幅振蕩應符合圖⒋155的要求。

   (4)再次觸發一個模擬器脈沖,觀察整個電流波形,電流波形的下降時間和減幅振蕩應符合圖⒋155的要求。

  (5)改變電壓極性(餼=8O00V),重復上面的驗證過程。建議:檢查模擬器的輸出,以驗證每次觸發只有一個脈沖,在Cl充電期間,不出現脈沖。為了觀察?儷淶緄乃布涔��?將觸發脈沖設置為相反極性,增加垂直靈敏度約10倍,然后觸發一個脈沖。