電容通常隨所施加的電壓而變化.因此，完整的表征需要了解在最大額定電壓下的電容。

使用4200A-CVIV開關提供的偏置功能以及在Clarius中測量CISS 、COSS和CRSS的。

CVIV可以很容易地在I-V和C-V測量值之間切換，它還可以將C-V測量值移動到任何設備終端，而無需重新連接或抬起探針。

所有SMU和CVU連接都是通過4200A-CVIV進行連接的。CVIV可以有一個4210-CVU或4215-CVU，最多可以有四個SMU連接到一個設備上。

使用4200A-CVIV提供了以下優點：

內置項目可測量高達200V和400V的CISS、 CRSS和COSS。

4200A-CVIV開關支持自動測量。不需要重新連接設備或電纜。

開路和短路的C-V補償。

MOSFET與CVIV的連接。對于這個特定的應用程序，至少需要三個SMU和一個CVU來完成測試。

顯示了封裝的MOSFET的實際CVIV連接。請注意，CVIV 上的所有通道都是打開的。4200A-CVIV 的四個通道將根據每次測試的配置進行配置，因此每次測試都不需要電纜重新連接。

此外，方案利用先進的跳頻技術，允許用戶預設特定跳頻點，主動避開可能引發共振的頻率區域，從而避免共振導致的機械振動、噪音增大以及潛在設備損傷，確保系統運行平順且無故障風險。

儀器的直流輸出電壓如何從200V 加到400V，進行漏極上更高電壓的測量，這有利于測試更高功率的半導體，如GaN器件。該功能已在Clarius V1.6以上的版本添加并更新。

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