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泰克公司:擴充100G電測試產品系列

發布時間:2015/3/14 9:27:00 訪問次數:698

泰克公司宣布,對其儀器和軟件系列進行重大擴充,為從事100gbps通信系統電測工作的設計人員提供支持。推出內容包括le320---一種2差分通道9抽頭線性均衡器,支持數據率可達32gbps,用作bertscope接收器測試系統的一部分;用于ppg/ped多通道誤碼率測試儀 (bert) 的新選項---在可達32gbps的數據率條件下提供信號損傷和輸出調整和一種新型號的40gbps誤差檢測器;以及使dsa8300采樣示波器實現cei-28g-vsr一致性測試自動化的選項cei-vsr。

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在從硅設計轉向接收器和系統設計的行業驅動下,對4x25g測試的需求變得更加重要。設計人員正在開發數據率可達100 gb/s(將使用四個25-28 gb/s巷道來提供)的創新網絡元件。設計挑戰在于在印刷電路板上傳輸這些高頻信號,即使是短距離傳輸。le320為測試工程師提供了多用途的輸出信號調理和可調輸入均衡功能,來幫助創造用于測試四個25-28gbps電通道的最佳系統;這是對增強的ppg/ped碼型發生器和誤差檢測器產品線的多通道功能的理想補充。采樣過濾器選項cei-vsr將確保高效和穩定的一致性測試支持,以便設計團體能夠順利過渡到制造。

“隨著100g慢慢變成主流,我們給我們的產品系列增加了兩項重要內容,來應對芯片、變速箱、收發器和系統4x25g電phy測試領域的挑戰”,泰克高性能示波器總經理brian reich表示,“對于接收器測試,我們利用對電通道建模和均衡的支持增強了我們的bertscope,同時為我們的多通道bert增加了40 gbps支持。對于發射器電測試,我們向設計人員提供了用于cei-28g-vsr測試的自動化解決方案。”

用于接收器測試的緊湊和多功能32 gb/s線性均衡器

開發10gbps或更快系統的設計人員需要位于rx輸入之前的均衡器或位于發射器tx輸出上的預加重模塊。隨著速度的增加,可幫助設計人員滿足這些要求的12gb/s以上儀器級信號調理產品的選擇變得有限。業內領先的le320將以用于提供100g通信標準(如cei-28g-vsr)所要求的高精度誤碼率測試的9抽頭設計來支持數據率范圍為8gbps - 32gbps的信號調理。le320的創新遠程探頭設計使設計人員能夠最大限度減小其測試系統的電纜長度,同時避免信號劣化問題,這在25-28gb/s條件下很重要。通過使用來自hittite的定制硅微波元件來減少元件數目,新le320以尺寸不比智能手機大多少的儀器級封裝和比低功能替代產品還小三分之一的價格提供了突破性的性能和多功能性。http://cmarch.51dzw.com/

憑借儀器級的可編程均衡功能,le320可配置為提供標準專屬均衡,允許對否則會閉眼的信號進行誤碼率 (ber) 分析。對于采用較低數據率的客戶,泰克公司還將為20gbps系統提供一種le160型號,以滿足40g-kr4、14gbps 光纖通道和16gbpspci express 4.0等應用的需要。

用于100g測試的多通道bert功能

多巷道高數據率標準推動了對多通道誤碼率儀器的需求。加壓的接收器測試、四通道端到端ber測試以及串擾測試現在都包含在由轉向多個高速并行巷道而推動的系列測試之中。泰克ppg/ped多巷道bert產品線現已得到增強,以提供擴展的抖動損傷功能,新的輸出調整靈活性和更高速度的誤差檢測功能,以更好地滿足這些標準的要求。

抖動插入選項范圍擴大后包括選項hfjit---該選項現在提供buj以及rj和sj;以及高振幅/低頻率pj,作為新選項lfjit的一部分。同時推出的還有選項adj,該選項增加了具有快速上升/下降時間和低固有抖動的可調輸出,以滿足32 gbps多通道碼型發生器應用的要求。支持數據率可達40 gbps、采用1或2通道配置的新ped4000系列誤差檢測器產品的推出增強了數據率余量測試。

更快、更自信的cei-28g-vsr一致性測試

針對光互連論壇通用電氣接口 (oif cei) 3.0 標準的實施協議規定了針對基于 oif 標準的器件的測試和限值。cei-28g-vsr 是這些標準的其中之一,其目的是用于可插拔光學收發器中的極短距離電通道。這些電氣接口對于滿足系統誤碼率 (ber) 指標要求非常重要,并且必須經受嚴格的測試和調試周期。

到現在為止,進行cei-28g-vsr標準要求的一致性測試和隔離與抖動或噪聲有關的問題一直是困難和勞動密集型的任務。與泰克80sjnb串行數據鏈路分析軟件的集成可幫助進行更深入的調試和定時根本原因分析,而無需改變儀器或測量設置。

通過使用選項cei-vsr和與該選項相關的泰克dsa8300采樣示波器,設計工程師能夠在不到5分鐘內完成一致性測量,與手動替代方案相比,這可使其測試時間縮短約95%。此外,選項cei-vsr還可用于確定ctle峰化的最優值,以滿足cei-28g-vsr主機至模塊接口規范等標準的要求。最佳ctle濾波器是從一組既定濾波器中選擇的,用于執行這項測量。如果沒有這項功能,設計工程師就需要花時間來手動確定最優ctle值,從而降低工作效率。


泰克公司宣布,對其儀器和軟件系列進行重大擴充,為從事100gbps通信系統電測工作的設計人員提供支持。推出內容包括le320---一種2差分通道9抽頭線性均衡器,支持數據率可達32gbps,用作bertscope接收器測試系統的一部分;用于ppg/ped多通道誤碼率測試儀 (bert) 的新選項---在可達32gbps的數據率條件下提供信號損傷和輸出調整和一種新型號的40gbps誤差檢測器;以及使dsa8300采樣示波器實現cei-28g-vsr一致性測試自動化的選項cei-vsr。

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在從硅設計轉向接收器和系統設計的行業驅動下,對4x25g測試的需求變得更加重要。設計人員正在開發數據率可達100 gb/s(將使用四個25-28 gb/s巷道來提供)的創新網絡元件。設計挑戰在于在印刷電路板上傳輸這些高頻信號,即使是短距離傳輸。le320為測試工程師提供了多用途的輸出信號調理和可調輸入均衡功能,來幫助創造用于測試四個25-28gbps電通道的最佳系統;這是對增強的ppg/ped碼型發生器和誤差檢測器產品線的多通道功能的理想補充。采樣過濾器選項cei-vsr將確保高效和穩定的一致性測試支持,以便設計團體能夠順利過渡到制造。

“隨著100g慢慢變成主流,我們給我們的產品系列增加了兩項重要內容,來應對芯片、變速箱、收發器和系統4x25g電phy測試領域的挑戰”,泰克高性能示波器總經理brian reich表示,“對于接收器測試,我們利用對電通道建模和均衡的支持增強了我們的bertscope,同時為我們的多通道bert增加了40 gbps支持。對于發射器電測試,我們向設計人員提供了用于cei-28g-vsr測試的自動化解決方案。”

用于接收器測試的緊湊和多功能32 gb/s線性均衡器

開發10gbps或更快系統的設計人員需要位于rx輸入之前的均衡器或位于發射器tx輸出上的預加重模塊。隨著速度的增加,可幫助設計人員滿足這些要求的12gb/s以上儀器級信號調理產品的選擇變得有限。業內領先的le320將以用于提供100g通信標準(如cei-28g-vsr)所要求的高精度誤碼率測試的9抽頭設計來支持數據率范圍為8gbps - 32gbps的信號調理。le320的創新遠程探頭設計使設計人員能夠最大限度減小其測試系統的電纜長度,同時避免信號劣化問題,這在25-28gb/s條件下很重要。通過使用來自hittite的定制硅微波元件來減少元件數目,新le320以尺寸不比智能手機大多少的儀器級封裝和比低功能替代產品還小三分之一的價格提供了突破性的性能和多功能性。http://cmarch.51dzw.com/

憑借儀器級的可編程均衡功能,le320可配置為提供標準專屬均衡,允許對否則會閉眼的信號進行誤碼率 (ber) 分析。對于采用較低數據率的客戶,泰克公司還將為20gbps系統提供一種le160型號,以滿足40g-kr4、14gbps 光纖通道和16gbpspci express 4.0等應用的需要。

用于100g測試的多通道bert功能

多巷道高數據率標準推動了對多通道誤碼率儀器的需求。加壓的接收器測試、四通道端到端ber測試以及串擾測試現在都包含在由轉向多個高速并行巷道而推動的系列測試之中。泰克ppg/ped多巷道bert產品線現已得到增強,以提供擴展的抖動損傷功能,新的輸出調整靈活性和更高速度的誤差檢測功能,以更好地滿足這些標準的要求。

抖動插入選項范圍擴大后包括選項hfjit---該選項現在提供buj以及rj和sj;以及高振幅/低頻率pj,作為新選項lfjit的一部分。同時推出的還有選項adj,該選項增加了具有快速上升/下降時間和低固有抖動的可調輸出,以滿足32 gbps多通道碼型發生器應用的要求。支持數據率可達40 gbps、采用1或2通道配置的新ped4000系列誤差檢測器產品的推出增強了數據率余量測試。

更快、更自信的cei-28g-vsr一致性測試

針對光互連論壇通用電氣接口 (oif cei) 3.0 標準的實施協議規定了針對基于 oif 標準的器件的測試和限值。cei-28g-vsr 是這些標準的其中之一,其目的是用于可插拔光學收發器中的極短距離電通道。這些電氣接口對于滿足系統誤碼率 (ber) 指標要求非常重要,并且必須經受嚴格的測試和調試周期。

到現在為止,進行cei-28g-vsr標準要求的一致性測試和隔離與抖動或噪聲有關的問題一直是困難和勞動密集型的任務。與泰克80sjnb串行數據鏈路分析軟件的集成可幫助進行更深入的調試和定時根本原因分析,而無需改變儀器或測量設置。

通過使用選項cei-vsr和與該選項相關的泰克dsa8300采樣示波器,設計工程師能夠在不到5分鐘內完成一致性測量,與手動替代方案相比,這可使其測試時間縮短約95%。此外,選項cei-vsr還可用于確定ctle峰化的最優值,以滿足cei-28g-vsr主機至模塊接口規范等標準的要求。最佳ctle濾波器是從一組既定濾波器中選擇的,用于執行這項測量。如果沒有這項功能,設計工程師就需要花時間來手動確定最優ctle值,從而降低工作效率。


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