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閘流體效應

發布時間:2018/4/21 22:47:41 訪問次數:2391



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OB2203

  正向電壓降低、暗光

  (1)一種是電極與發光材料為歐姆接觸,但接觸電阻大,主要由材料襯底低濃度或電極缺損所致。

  (2)一種是電極與材料為非歐姆接觸,主要發生在芯片電極制備過程中蒸發第一層電極時的擠壓印或夾印,分布位置。

  另外封裝過程中也可能造成正向壓降低,主要原因有銀膠固化不充分,支架或芯片電極沾污等造成接觸電阻大或接觸電阻不穩定。http://weiyoudu.51dzw.com

  正向壓降低的芯片在固定電壓測試時,通過芯片的電流小,從而表現暗點,還有一種暗光現象是芯片本身發光效率低,正向壓降正常。

  難壓焊

  (1)打不粘:主要因為電極表面氧化或有膠

  (2)有與發光材料接觸不牢和加厚焊線層不牢,其中以加厚層脫落為主。

  (3)打穿電極:通常與芯片材料有關,材料脆且強度不高的材料易打穿電極,一般gaalas材料(如高紅,紅外芯片)較gap材料易打穿電極。

  (4)壓焊調試應從焊接溫度,超聲波功率,超聲時間,壓力,金球大小,支架定位等進行調整。

  發光顏色差異

  (1)同一張芯片發光顏色有明顯差異主要是因為外延片材料問題,algainp四元素材料采用量子結構很薄,生長是很難保證各區域組分一致。(組分決定禁帶寬度,禁帶寬度決定波長)。

  (2)gap黃綠芯片,發光波長不會有很大偏差,但是由于人眼對這個波段顏色敏感,很容易查出偏黃,偏綠。由于波長是外延片材料決定的,區域越小,出現顏色偏差概念越小,故在m/t作業中有鄰近選取法。

  (3)gap紅色芯片有的發光顏色是偏橙黃色,這是由于其發光機理為間接躍進。受雜質濃度影響,電流密度加大時,易產生雜質能級偏移和發光飽和,發光是開始變為橙黃色。http://weiyoudu.51dzw.com

  閘流體效應

  (1)是發光二極管在正常電壓下無法導通,當電壓加高到一定程度,電流產生突變。

  (2)產生閘流體現象原因是發光材料外延片生長時出現了反向夾層,有此現象的led在if=20ma時測試的正向壓降有隱藏性,在使用過程是出于兩極電壓不夠大,表現為不亮,可用測試信息儀器從晶體管圖示儀測試曲線,也可以通過小電流if=10ua下的正向壓降來發現,小電流下的正向壓降明顯偏大,則可能是該問題所致。

  反向漏電流ir

  在限定條件下反向漏電流為二極管的基本特性,按led以前的常規規定,指反向電壓在5v時的反向漏電流。隨著發光二極管性能的提高,反向漏電流會越來越小。ir越小越好,產生原因為電子的不規則移動。

  (1)芯片本身品質問題原因,可能晶片本身切割異常所導致。

  (2)銀膠點的太多,嚴重時會導致短路。外延造成的反向漏電主要由pn結內部結構缺陷所致,芯片制作過程中側面腐蝕不夠或有銀膠絲沾附在測面,嚴禁用有機溶液調配銀膠。以防止銀膠通過毛細現象爬到結區。http://weiyoudu.51dzw.com

  (3)靜電擊傷。外延材料,芯片制作,器件封裝,測試一般5v下反向漏電流為10ua,也可以固定反向電流下測試反向電壓。不同類型的led反向特性相差大:普綠,普黃芯片反向擊穿可達到一百多伏,而普紅芯片則在十幾二十伏之間。

  (4)焊線壓力控制不當,造成晶片內崩導致ir升高。

  解決方案:

  (1)銀膠膠量需控制在晶片高度的1/3~1/2;

  (2)人體及機臺靜電量需控制在50v以下;

  (3)焊線第一點的壓力應控制在30~45g之間為佳。

  死燈現象

  (1)led的漏電流過大造成pn結失效,使led燈點不亮,這種情況一般不會影響其他的led燈的工作。

  (2)led燈的內部連接引線斷開,造成led無電流通過而產生死燈,這種情況會影響其他的led燈的正常工作,原因是由于led燈工作電壓低(紅黃橙led工作電壓1.8v-2.2v,藍綠白led工作電壓2.8-3.2v),一般都要用串、并聯來聯接,來適應不同的工作電壓,串聯的led燈越多影響越大,只要其中有一個led燈內部連線開路,將造成該串聯電路的整串led燈不亮,可見這種情況比第一種情況要嚴重的多。http://weiyoudu.51dzw.com

來源:電子產品世界

 

 

 




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  正向電壓降低、暗光

  (1)一種是電極與發光材料為歐姆接觸,但接觸電阻大,主要由材料襯底低濃度或電極缺損所致。

  (2)一種是電極與材料為非歐姆接觸,主要發生在芯片電極制備過程中蒸發第一層電極時的擠壓印或夾印,分布位置。

  另外封裝過程中也可能造成正向壓降低,主要原因有銀膠固化不充分,支架或芯片電極沾污等造成接觸電阻大或接觸電阻不穩定。http://weiyoudu.51dzw.com

  正向壓降低的芯片在固定電壓測試時,通過芯片的電流小,從而表現暗點,還有一種暗光現象是芯片本身發光效率低,正向壓降正常。

  難壓焊

  (1)打不粘:主要因為電極表面氧化或有膠

  (2)有與發光材料接觸不牢和加厚焊線層不牢,其中以加厚層脫落為主。

  (3)打穿電極:通常與芯片材料有關,材料脆且強度不高的材料易打穿電極,一般gaalas材料(如高紅,紅外芯片)較gap材料易打穿電極。

  (4)壓焊調試應從焊接溫度,超聲波功率,超聲時間,壓力,金球大小,支架定位等進行調整。

  發光顏色差異

  (1)同一張芯片發光顏色有明顯差異主要是因為外延片材料問題,algainp四元素材料采用量子結構很薄,生長是很難保證各區域組分一致。(組分決定禁帶寬度,禁帶寬度決定波長)。

  (2)gap黃綠芯片,發光波長不會有很大偏差,但是由于人眼對這個波段顏色敏感,很容易查出偏黃,偏綠。由于波長是外延片材料決定的,區域越小,出現顏色偏差概念越小,故在m/t作業中有鄰近選取法。

  (3)gap紅色芯片有的發光顏色是偏橙黃色,這是由于其發光機理為間接躍進。受雜質濃度影響,電流密度加大時,易產生雜質能級偏移和發光飽和,發光是開始變為橙黃色。http://weiyoudu.51dzw.com

  閘流體效應

  (1)是發光二極管在正常電壓下無法導通,當電壓加高到一定程度,電流產生突變。

  (2)產生閘流體現象原因是發光材料外延片生長時出現了反向夾層,有此現象的led在if=20ma時測試的正向壓降有隱藏性,在使用過程是出于兩極電壓不夠大,表現為不亮,可用測試信息儀器從晶體管圖示儀測試曲線,也可以通過小電流if=10ua下的正向壓降來發現,小電流下的正向壓降明顯偏大,則可能是該問題所致。

  反向漏電流ir

  在限定條件下反向漏電流為二極管的基本特性,按led以前的常規規定,指反向電壓在5v時的反向漏電流。隨著發光二極管性能的提高,反向漏電流會越來越小。ir越小越好,產生原因為電子的不規則移動。

  (1)芯片本身品質問題原因,可能晶片本身切割異常所導致。

  (2)銀膠點的太多,嚴重時會導致短路。外延造成的反向漏電主要由pn結內部結構缺陷所致,芯片制作過程中側面腐蝕不夠或有銀膠絲沾附在測面,嚴禁用有機溶液調配銀膠。以防止銀膠通過毛細現象爬到結區。http://weiyoudu.51dzw.com

  (3)靜電擊傷。外延材料,芯片制作,器件封裝,測試一般5v下反向漏電流為10ua,也可以固定反向電流下測試反向電壓。不同類型的led反向特性相差大:普綠,普黃芯片反向擊穿可達到一百多伏,而普紅芯片則在十幾二十伏之間。

  (4)焊線壓力控制不當,造成晶片內崩導致ir升高。

  解決方案:

  (1)銀膠膠量需控制在晶片高度的1/3~1/2;

  (2)人體及機臺靜電量需控制在50v以下;

  (3)焊線第一點的壓力應控制在30~45g之間為佳。

  死燈現象

  (1)led的漏電流過大造成pn結失效,使led燈點不亮,這種情況一般不會影響其他的led燈的工作。

  (2)led燈的內部連接引線斷開,造成led無電流通過而產生死燈,這種情況會影響其他的led燈的正常工作,原因是由于led燈工作電壓低(紅黃橙led工作電壓1.8v-2.2v,藍綠白led工作電壓2.8-3.2v),一般都要用串、并聯來聯接,來適應不同的工作電壓,串聯的led燈越多影響越大,只要其中有一個led燈內部連線開路,將造成該串聯電路的整串led燈不亮,可見這種情況比第一種情況要嚴重的多。http://weiyoudu.51dzw.com

來源:電子產品世界

 

 

 


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