功能塊和IDENTControl控制接口單元用于PLC應用
發布時間:2021/8/6 0:00:30 訪問次數:618
解決方案基于UHF RFID技術,可實現較高的檢測范圍(最高6 m)和速度,并支持多標簽讀取。
IUT-F190-B40的發射功率可達1000 mW ERP,外殼尺寸僅為114 x 112 x 63 mm,這使其在市場上的性能堪稱一流。
倍加福的其他RFID讀寫頭主要通過功能塊和IDENTControl控制接口單元用于PLC應用,而IUT-F190-B40可以通過使用REST API輕松集成到IT系統中。
可以通過此接口對UHF讀碼器進行完全的參數化和操作。
制造商: Infineon
產品種類: MOSFET
技術: Si
安裝風格: SMD/SMT
封裝 / 箱體: TO-263-3
晶體管極性: N-Channel
通道數量: 1 Channel
Vds-漏源極擊穿電壓: 75 V
Id-連續漏極電流: 80 A
Rds On-漏源導通電阻: 4.8 mOhms
Vgs - 柵極-源極電壓: - 20 V, + 20 V
Vgs th-柵源極閾值電壓: 1.2 V
Qg-柵極電荷: 233 nC
最小工作溫度: - 55 C
最大工作溫度: + 175 C
Pd-功率耗散: 300 W
通道模式: Enhancement
資格: AEC-Q101
商標名: OptiMOS
封裝: Cut Tape
封裝: MouseReel
封裝: Reel
配置: Single
高度: 4.4 mm
長度: 10 mm
晶體管類型: 1 N-Channel
寬度: 9.25 mm
商標: Infineon Technologies
下降時間: 22 ns
產品類型: MOSFET
上升時間: 55 ns
工廠包裝數量: 1000
子類別: MOSFETs
典型關閉延遲時間: 85 ns
典型接通延遲時間: 19 ns
零件號別名: IPB80N08S2L-07 SP000219051
單位重量: 4 g
距離測量應用的發展,比如自動化技術中的機器人技術。為滿足嚴苛工業環境的高要求,TDK開發了一種緊湊且堅固耐用的超聲波傳感器模塊。
市面上的距離測量和物體檢測技術有很多,但大多不適合工業應用。
例如,基于毫米波雷達和激光雷達的系統價格昂貴并且功耗相對較高,并且光學系統受環境光、反射和霧霾污染影響較大,很少用于工業環境。
而實踐證明,基于飛行時間 (ToF) 工作原理的超聲波測量方法能可靠用于工業環境。
(素材來源:eccn和ttic.如涉版權請聯系刪除。特別感謝)
解決方案基于UHF RFID技術,可實現較高的檢測范圍(最高6 m)和速度,并支持多標簽讀取。
IUT-F190-B40的發射功率可達1000 mW ERP,外殼尺寸僅為114 x 112 x 63 mm,這使其在市場上的性能堪稱一流。
倍加福的其他RFID讀寫頭主要通過功能塊和IDENTControl控制接口單元用于PLC應用,而IUT-F190-B40可以通過使用REST API輕松集成到IT系統中。
可以通過此接口對UHF讀碼器進行完全的參數化和操作。
制造商: Infineon
產品種類: MOSFET
技術: Si
安裝風格: SMD/SMT
封裝 / 箱體: TO-263-3
晶體管極性: N-Channel
通道數量: 1 Channel
Vds-漏源極擊穿電壓: 75 V
Id-連續漏極電流: 80 A
Rds On-漏源導通電阻: 4.8 mOhms
Vgs - 柵極-源極電壓: - 20 V, + 20 V
Vgs th-柵源極閾值電壓: 1.2 V
Qg-柵極電荷: 233 nC
最小工作溫度: - 55 C
最大工作溫度: + 175 C
Pd-功率耗散: 300 W
通道模式: Enhancement
資格: AEC-Q101
商標名: OptiMOS
封裝: Cut Tape
封裝: MouseReel
封裝: Reel
配置: Single
高度: 4.4 mm
長度: 10 mm
晶體管類型: 1 N-Channel
寬度: 9.25 mm
商標: Infineon Technologies
下降時間: 22 ns
產品類型: MOSFET
上升時間: 55 ns
工廠包裝數量: 1000
子類別: MOSFETs
典型關閉延遲時間: 85 ns
典型接通延遲時間: 19 ns
零件號別名: IPB80N08S2L-07 SP000219051
單位重量: 4 g
距離測量應用的發展,比如自動化技術中的機器人技術。為滿足嚴苛工業環境的高要求,TDK開發了一種緊湊且堅固耐用的超聲波傳感器模塊。
市面上的距離測量和物體檢測技術有很多,但大多不適合工業應用。
例如,基于毫米波雷達和激光雷達的系統價格昂貴并且功耗相對較高,并且光學系統受環境光、反射和霧霾污染影響較大,很少用于工業環境。
而實踐證明,基于飛行時間 (ToF) 工作原理的超聲波測量方法能可靠用于工業環境。
(素材來源:eccn和ttic.如涉版權請聯系刪除。特別感謝)