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大功率驅動四路2Ω低阻抗負載提供PXIe模塊化接口整合功能測試

發布時間:2021/8/10 8:15:34 訪問次數:507

HFDA801A是一款高分辨率音頻放大器芯片,專門為尺寸緊湊、追求成本效益的車用音響系統設計。

這款放大器采用內部供給全部電源電壓的架構,使HFDA801A可以從車輛蓄電池取電,而無需增加額外的電源變換器。

新放大器具有廣泛負載范圍,即使大功率驅動四路2Ω低阻抗負載,也能確保性能穩定。

此外,通過集成實時診斷、數字阻抗表和實時負載電流監視器,HFDA801A還可用于安全相關的必須符合ASIL要求的音頻應用,例如,電動汽車低速提示音系統 (AVAS)。

制造商: Texas Instruments

產品種類: 閉鎖

RoHS: 詳細信息

電路數量: 2 Circuit

邏輯類型: True

邏輯系列: ABT

極性: Non-Inverting

靜態電流: 85 mA

輸出線路數量: 16 Line

高電平輸出電流: - 24 mA

低電平輸出電流: 32 mA

傳播延遲時間: 5.4 ns at 5 V

電源電壓-最大: 5.5 V

電源電壓-最小: 4.5 V

最小工作溫度: - 55 C

最大工作溫度: + 125 C

封裝 / 箱體: SSOP-48

封裝: Reel

功能: Transparent

高度: 2.59 mm

長度: 15.88 mm

輸出類型: 3-State

系列: SN74ABT16373A-EP

類型: D-Type

寬度: 7.49 mm

商標: Texas Instruments

安裝風格: SMD/SMT

通道數量: 16 Channels

輸入線路數量: 16 Line

工作電源電壓: 5 V

產品類型: Latches

復位類型: No Reset

工廠包裝數量: 1000

子類別: Logic ICs

零件號別名: V62/06628-01XE

單位重量: 600.300 mg

全新的 i7090 多核并行測試系統。這是一全新的自動測試設備,專門設計用于對多種印刷電路板(PCBA)進行并行測試,可以實現高測試吞吐量,幫助客戶加速產品推向市場并降低測試成本。

目前市面上的測試系統最多只能支持四核并行測試。客戶需要采購更多系統進行測試,才能滿足制造需求,但這樣無疑會導致規模擴大、基礎設施成本上升、占用更大的測試空間,并且需要更多的成本投資和維護人員。

新型多核并行測試系統可支持多達20個內核并行測試,并提供了基于 PXIe 模塊化接口整合功能測試。


(素材來源:eccn和ttic.如涉版權請聯系刪除。特別感謝)




HFDA801A是一款高分辨率音頻放大器芯片,專門為尺寸緊湊、追求成本效益的車用音響系統設計。

這款放大器采用內部供給全部電源電壓的架構,使HFDA801A可以從車輛蓄電池取電,而無需增加額外的電源變換器。

新放大器具有廣泛負載范圍,即使大功率驅動四路2Ω低阻抗負載,也能確保性能穩定。

此外,通過集成實時診斷、數字阻抗表和實時負載電流監視器,HFDA801A還可用于安全相關的必須符合ASIL要求的音頻應用,例如,電動汽車低速提示音系統 (AVAS)。

制造商: Texas Instruments

產品種類: 閉鎖

RoHS: 詳細信息

電路數量: 2 Circuit

邏輯類型: True

邏輯系列: ABT

極性: Non-Inverting

靜態電流: 85 mA

輸出線路數量: 16 Line

高電平輸出電流: - 24 mA

低電平輸出電流: 32 mA

傳播延遲時間: 5.4 ns at 5 V

電源電壓-最大: 5.5 V

電源電壓-最小: 4.5 V

最小工作溫度: - 55 C

最大工作溫度: + 125 C

封裝 / 箱體: SSOP-48

封裝: Reel

功能: Transparent

高度: 2.59 mm

長度: 15.88 mm

輸出類型: 3-State

系列: SN74ABT16373A-EP

類型: D-Type

寬度: 7.49 mm

商標: Texas Instruments

安裝風格: SMD/SMT

通道數量: 16 Channels

輸入線路數量: 16 Line

工作電源電壓: 5 V

產品類型: Latches

復位類型: No Reset

工廠包裝數量: 1000

子類別: Logic ICs

零件號別名: V62/06628-01XE

單位重量: 600.300 mg

全新的 i7090 多核并行測試系統。這是一全新的自動測試設備,專門設計用于對多種印刷電路板(PCBA)進行并行測試,可以實現高測試吞吐量,幫助客戶加速產品推向市場并降低測試成本。

目前市面上的測試系統最多只能支持四核并行測試。客戶需要采購更多系統進行測試,才能滿足制造需求,但這樣無疑會導致規模擴大、基礎設施成本上升、占用更大的測試空間,并且需要更多的成本投資和維護人員。

新型多核并行測試系統可支持多達20個內核并行測試,并提供了基于 Ie 模塊化接口整合功能測試。


(素材來源:eccn和ttic.如涉版權請聯系刪除。特別感謝)




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