投影光學系統的特點
發布時間:2008/12/26 0:00:00 訪問次數:369
用顯微鏡進行觀測,因不同于人們日常的活動姿態,故易引起疲勞。若改成投影方式則可大大減輕疲勞,提高工作效率,還可供多人同時觀察,因而投影儀器得到廣泛的應用。投影測量就是將照明后的被測對象(或其中間像)經物鏡放大后投影于屏上并進行測量。可通過兩種方式進行測量:第一種是比較測量,即將標準的物體形狀或尺寸(還可包括其公差帶)按投影物鏡的放大倍數繪制出放在投影屏上,然后與實際的物體輪廓投影像進行比較,觀察其是否在公差帶內;第二種是以屏上刻制的標志來對準被測件上的某一標志,然后通過移動工作臺使工件移至屏上的標志對準工件的另一標志,從工作臺上的精密標尺即可讀出工件上這兩個標志間的尺寸。投影系統具有以下特點:
①由于要對屏上的像進行精密測量,因而要求像質清晰、畸變小,放大率嚴格準確,這與一般的幻燈投影系統是不同的。
②對于精密測量工作,要求屏上的照度在10~30 lx,且照明均勻。當投影屏較大時,為了滿足這一條件,照明系統是要特別精心設計的。
③采用遠心照明及遠心光路。與顯微系統相同,物鏡采用物方遠心光路可避免由于調焦不準造成的測量誤差。至于照明,當照明光束為會聚光時,見圖1(a)所示,聚光鏡1將光源s成像于投影物鏡2的入瞳上。移動物鏡進行調焦,直到屏上獲得清晰的物像,這個像與照明光束和物體相切的截面共軛。從圖1(a)中可以看出,相切的截面并不是物體的最大輪廓邊緣dd,并且工件直徑不同,被切的截面位置也不同。若被測物體安置成非軸對稱,則被照明的邊緣不在同一截面上,如圖1(b)所示,測非軸對稱零件時情況與此類同。當這兩個截面間的距離超過物鏡的景深,則無法獲得一個邊緣全部清晰的像,更談不上精確的對準或測量了。只有將燈絲放在聚光鏡的焦面上使照明光束平行于光軸時,才能避免上述缺陷,如圖2所示。從圖中可以看出,不論工件對稱或不對稱于光軸放置,照明光束總是與最大輪廓相切,屏上的像反映的是物體最大截面的尺寸。實際光路中,聚光鏡的焦面上可以放燈絲,也可以放被照明的濾色片或毛玻璃。
圖1 會聚光照明
圖2 平行光照明
④工作距離長。為操作上方便,投影系統中的工作距離都較長,若要在投影儀上修正工件,則工作距離還要長。
歡迎轉載,信息來源維庫電子市場網(www.dzsc.com)
用顯微鏡進行觀測,因不同于人們日常的活動姿態,故易引起疲勞。若改成投影方式則可大大減輕疲勞,提高工作效率,還可供多人同時觀察,因而投影儀器得到廣泛的應用。投影測量就是將照明后的被測對象(或其中間像)經物鏡放大后投影于屏上并進行測量。可通過兩種方式進行測量:第一種是比較測量,即將標準的物體形狀或尺寸(還可包括其公差帶)按投影物鏡的放大倍數繪制出放在投影屏上,然后與實際的物體輪廓投影像進行比較,觀察其是否在公差帶內;第二種是以屏上刻制的標志來對準被測件上的某一標志,然后通過移動工作臺使工件移至屏上的標志對準工件的另一標志,從工作臺上的精密標尺即可讀出工件上這兩個標志間的尺寸。投影系統具有以下特點:
①由于要對屏上的像進行精密測量,因而要求像質清晰、畸變小,放大率嚴格準確,這與一般的幻燈投影系統是不同的。
②對于精密測量工作,要求屏上的照度在10~30 lx,且照明均勻。當投影屏較大時,為了滿足這一條件,照明系統是要特別精心設計的。
③采用遠心照明及遠心光路。與顯微系統相同,物鏡采用物方遠心光路可避免由于調焦不準造成的測量誤差。至于照明,當照明光束為會聚光時,見圖1(a)所示,聚光鏡1將光源s成像于投影物鏡2的入瞳上。移動物鏡進行調焦,直到屏上獲得清晰的物像,這個像與照明光束和物體相切的截面共軛。從圖1(a)中可以看出,相切的截面并不是物體的最大輪廓邊緣dd,并且工件直徑不同,被切的截面位置也不同。若被測物體安置成非軸對稱,則被照明的邊緣不在同一截面上,如圖1(b)所示,測非軸對稱零件時情況與此類同。當這兩個截面間的距離超過物鏡的景深,則無法獲得一個邊緣全部清晰的像,更談不上精確的對準或測量了。只有將燈絲放在聚光鏡的焦面上使照明光束平行于光軸時,才能避免上述缺陷,如圖2所示。從圖中可以看出,不論工件對稱或不對稱于光軸放置,照明光束總是與最大輪廓相切,屏上的像反映的是物體最大截面的尺寸。實際光路中,聚光鏡的焦面上可以放燈絲,也可以放被照明的濾色片或毛玻璃。
圖1 會聚光照明
圖2 平行光照明
④工作距離長。為操作上方便,投影系統中的工作距離都較長,若要在投影儀上修正工件,則工作距離還要長。
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