LED LAMP半成品檢驗規范的標準是什么?
發布時間:2011/6/16 17:19:25 訪問次數:3808
為確保led半成品檢驗作業,使生產過程中的品質得到合理有效的控制,減少不良
品的生產,企業必須按照led lamp半成品檢驗規范標準進行質量檢驗,如表3-3~表3-6
所示。該規范適用于固晶、焊線、灌膠、生產過程中的一切品質控制作業。在這幾個表中,
次要缺陷為mi,主要缺陷為ma,致命缺陷為cr。
表3-3固晶站半成品檢驗規范
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┃ 序號 ┃ 項 目 ┃ 檢驗判定說明 ┃ 不良判別 ┃
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┃ 1 ┃支架變色 ┃支架氧化生銹,影響外觀及焊線 ┃ mi ┃
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┃ 2 ┃杯壁粘膠 ┃支架大碗內壁粘有膠,且大于內壁的四分之一 ┃ mi ┃
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┃ 3 ┃焊墊刺傷 ┃晶片焊墊刺傷面積大于四分之- pad ' ┃ ma ┃
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┃ 4 ┃銀膠過少 ┃銀膠高度低于晶片高度的四分之一 ┃ ma ┃
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┃ 5 ┃晶片懸浮 ┃晶片只有底面與膠接觸而懸浮于膠的表面 ┃ ma ┃
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┃ 6 ┃推力不足 ┃固晶推力小于90g ┃ mi ┃
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┃ 7 ┃焊墊脫落 ┃晶片焊墊脫落露出晶片色澤 ┃ cr ┃
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┃ 8 ┃支架錯位 ┃支架陰陽極偏移寬度大于三分之一 ┃ mi ┃
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┃ 9 ┃漏固 ┃支架該固晶位置而沒有晶片 ┃ cr ┃
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┃ 10 ┃混固 ┃一批材料中有兩種以上不同光色、電性的晶片 ┃ cr ┃
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┃ 11 ┃多固 ┃所有的固晶點比要求多一個以上的晶片 ┃ cr ┃
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┃ 12 ┃晶片重疊 ┃兩個晶片上下重疊 ┃ cr ┃
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┃ 13 ┃晶片翻倒 ┃晶片底部或側面朝上 ┃ cr ┃
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┃ 14 ┃晶片傾斜 ┃晶片的底部有一邊偏離水平面 ┃ ma ┃
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┃ 15 ┃膠過多 ┃膠的高度超出晶片高度的1/3 ┃ ma ┃
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┃ 16 ┃銀膠短路 ┃支架陰陽極因銀膠連接短路 ┃ cr ┃
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┃ 17 ┃偏固 ┃晶片偏離固晶中心位置1/2 ┃ ma ┃
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┃ 18 ┃晶片破損 ┃晶片破損面積大于1/5 ┃ ma ┃
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表3-4焊線半成品檢驗規范
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┃序號 ┃ 項 目 ┃ 檢驗判定說明 ┃不良判別 ┃
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┃ l ┃漏焊 ┃焊墊及第二焊點面皆無焊點痕跡 ┃ cr ┃
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┃ 2 ┃斷線 ┃第一與第二點之間任何一處斷線 ┃ cr ┃
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┃ 3 ┃塌線 ┃第一焊點塌線,金線與品片邊緣接觸或塌線連接杯與支架兩點造成短路 ┃ cr ┃
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┃ 4 ┃虛焊 ┃焊墊問題或壓力不夠造成第一點或第二點松焊 ┃ cr ┃
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┃ 5 ┃焊墊打穿 ┃焊墊打穿的部分已露出晶片光澤 ┃ cr ┃
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┃ 6 ┃晶片松動 ┃焊線后晶片底部銀膠碎裂或晶片懸浮造成晶片松動 ┃ cr ┃
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┃ 7 ┃晶片碎裂 ┃晶片表面或側面出現裂痕或晶片呈粉碎狀 ┃ cr ┃
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┃ 8 ┃拉直線 ┃第一點與第二點連接成直線狀 ┃ cr ┃
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┃ 9 ┃方向錯誤 ┃藍、白光、雙色類產品焊線方向反向或交叉 ┃ cr ┃
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┃ 10 ┃尾線太長 ┃尾線超出晶片邊緣或第二點留有線尾 ┃ ma ┃
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┃ 11 ┃弧度過高 ┃焊線弧度大于1個晶片高度以上(或以支架面為基準、弧度高度超過16 mil) ┃ ma ┃
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┃ 12 ┃弧度過低 ┃焊線弧度小于1/2個晶片高度(從晶片鋁膜算起) ┃ ma ┃
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┃ 13 ┃偏焊 ┃焊點與焊墊接觸面積小于焊墊面積的2/3 ┃ ma ┃
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┃ 14 ┃線球餅狀 ┃線球過大或成餅狀 ┃ ma ┃
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┃ 15 ┃倒線 ┃弧度偏向一邊 ┃ ma ┃
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┃ 16 ┃支架錯位 ┃第一點與第二點不在同一平面位置 ┃ ma ┃
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(續表)
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┃序號 ┃ 項 目 ┃ 檢驗判定說明 ┃不良判別 ┃
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┃ 17 ┃焊線相連 ┃因機器切線失誤造成連續焊線 ┃ ma ┃
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┃ 18 ┃金球大小 ┃金球過大超過亮光區或者球過小等于線徑 ┃ ma ┃
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┃ 19 ┃弧度變形 ┃線弧呈s形或其他不規格形狀 ┃ ma ┃
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┃ 20 ┃金球重疊 ┃焊墊上有兩個焊點以上 ┃ ma ┃
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┃ 21 ┃雜線 ┃支架上有造成短路的導電雜物或者雜線 ┃ ma ┃
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┃ 22 ┃拉力不足 ┃1.0 mil金線拉力不足6g,1.2 mil金線拉力不足13 g ┃ ma ┃
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表3-5灌膠站半成品檢驗規范
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┃序號 ┃ 項 目 ┃ 檢驗判定說明 ┃不良判別 ┃
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┃ 1 ┃配膠錯誤 ┃配膠時所用膠水規格、比例不正確(與生產工作單不符) ┃ cr ┃
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┃ 2 ┃剪錯卡點 ┃插支架使用的卡點與生產工作單要求的模粒卡點不符 ┃ cr ┃
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┃ 3 ┃灌膠混料 ┃所插支架與生產工作單要求不符 ┃ cr ┃
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┃ 4 ┃灌錯型號 ┃生產作業的型號與生產工作單的型號所使用的原物料不相符 ┃ cr ┃
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┃ 5 ┃膠色異樣 ┃膠體的顏色與生產工作單要求的顏色差異明顯(參照樣品) ┃ cr ┃
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┃ 6 ┃用錯模粒 ┃生產使用時的模粒型號規格與生產工作單要求不符 ┃ cr ┃
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┃ 7 ┃膠體未干 ┃膠體離模時膠水未凝固或硬度不夠且有變形或裂痕現象 ┃ ma ┃
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┃ 8 ┃杯碗氣泡 ┃封膠時空氣滯留于支架碗內形成泡狀小球狀 ┃ ma ┃
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┃ 9 ┃支架插反 ┃插支架所插方向與生產工作單要求不符 ┃ ma ┃
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┃ 10 ┃模粒刮傷 ┃膠體表面有裂痕或刮傷痕跡 ┃ ma ┃
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┃ 1l ┃多膠或少膠 ┃膠體(指帽沿)都份多,少膠與正常相比超過0.2 mm以上 ┃ ma ┃
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┃ 12 ┃支架插偏 ┃支架插入模粒內未在模粒中心位 ┃ ma ┃
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┃ 13 ┃支架粘膠 ┃支架pin粘有膠 ┃ ma ┃
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┃ 14 ┃裂膠 ┃因配膠錯誤或烘烤問題,造成離模后膠體裂膠 ┃ ma ┃
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┃ 15 ┃膠體氣泡 ┃膠體表面有針孔狀之氣泡或膠體內形成針孔狀之氣泡 ┃ ml ┃
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┃ 16 ┃膠體毛邊 ┃膠體(指帽沿)部分四周有殘膠造成毛邊 ┃ ml ┃
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表3-6半成品抽樣檢查判定規范
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┃ 工站 ┃ 抽樣檢查判定標準 ┃
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┃ ┃ 依《led-lamp半成品檢驗規范》(固晶站)檢驗項目內容進行檢驗 ┃
┃ ┣━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ ┃ 嚴重缺陷(cr類):允收水準,ac= o/re=1,可修復類全退(特殊情形根據實際情況另做處理) ┃
┃ ┣━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ ┃ 主要缺點(ma類): ┃
┃ 固 ┃ (1)可修復類不良總數占抽驗量(以0.5 k為單位)0.5%以上全退(如晶片傾斜、晶片破損、雜物、鋁墊刺 ┃
┃ 晶 ┃傷、焊墊粘膠、位置不當、支架錯位等可退回重修); ┃
┃ ┃ (2)不可修復類:如銀膠過多或過少、杯壁粘膠等,無法修復的占抽驗量的1%以上時應發出“品質異常處 ┃
┃ ┃理聯絡單”: ┃
┃ ┃ (3)不良總數占抽驗量(以0.5k為單位)0.5%以下,只對抽驗可修復產品重修 ┃
┃ ┣━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ ┃ 抽驗水準:普通產品每批抽20%,藍、白光,雙色類產品每批抽40%(以0.5 k為最小單位) ┃
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(續表)
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┃ 工站 ┃ 抽樣檢查判定標準 ┃
┣━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ ┃ 依《led-lamp半成品檢驗規范》(焊線站)檢驗項目內容進行檢驗 ┃
┃ ┣━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ ┃ 嚴重缺點(cr類):允收水準,ac= o/re=1,可修復類全退(特殊情形根據實際情況另做處理) ┃
┃ ┃ 另外,對掉晶不良,掉晶超過抽驗量(普通類產品2%、藍、白光、雙色類1%)需進行補晶(補晶以一次 ┃
┃ ┃為限) ┃
┃ ┣━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ 焊 ┃ 主要缺點(ma類):允收水準,可修復類不良總數占抽驗量(以0.5 k為單位)0.5%以上全退 ┃
┃ ┣━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ 線 ┃ 可修復類:如尾線太長、弧度過高或過低、偏焊、倒線、支架錯位、焊線相連、弧度彎曲、雜線、拉力不足 ┃
┃ ┃等,可退回重修 ┃
┃ ┣━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ ┃ 不可修復類:如線球餅狀、金球重疊等,無法修復的占抽驗量1%以上時應發出“品質異常處理聯絡單”。不 ┃
┃ ┃良總數占抽驗量(以0.5 k為單位)0.50/0以下時,只對抽驗可修復產品重修 ┃
┃ ┣━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ ┃ 抽驗水準:普通產品每批抽20%,藍、白光、雙色類產品每批抽40%,(以0.5 k為最小單位)測拉力每次抽 ┃
┃ ┃5pcs ┃
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┃ ┃ 依《led-lamp半成品檢驗規范》(封膠站)檢驗項目內容進行檢驗 ┃
┃ ┣━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ 灌 ┃ 嚴重缺點(cr類):發出“品質異常聯絡單”知會組長、當班主管 ┃
┃ 膠 ┃ ┃
┃ ┣━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ ┃ 主要缺點(ma類)、次要缺點(mi類):知會組長當班主管,若不艮數量、比率超過loqe應發出“品質異常 ┃
┃ ┃處理聯絡單”。可修復類要進行返工處理(可修復類:粘膠氣泡、灌膠氣泡、插反等,在未烘烤前) ┃
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品的生產,企業必須按照led lamp半成品檢驗規范標準進行質量檢驗,如表3-3~表3-6
所示。該規范適用于固晶、焊線、灌膠、生產過程中的一切品質控制作業。在這幾個表中,
次要缺陷為mi,主要缺陷為ma,致命缺陷為cr。
表3-3固晶站半成品檢驗規范
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┃ 序號 ┃ 項 目 ┃ 檢驗判定說明 ┃ 不良判別 ┃
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┃ 1 ┃支架變色 ┃支架氧化生銹,影響外觀及焊線 ┃ mi ┃
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┃ 2 ┃杯壁粘膠 ┃支架大碗內壁粘有膠,且大于內壁的四分之一 ┃ mi ┃
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┃ 3 ┃焊墊刺傷 ┃晶片焊墊刺傷面積大于四分之- pad ' ┃ ma ┃
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┃ 4 ┃銀膠過少 ┃銀膠高度低于晶片高度的四分之一 ┃ ma ┃
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┃ 5 ┃晶片懸浮 ┃晶片只有底面與膠接觸而懸浮于膠的表面 ┃ ma ┃
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┃ 6 ┃推力不足 ┃固晶推力小于90g ┃ mi ┃
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┃ 7 ┃焊墊脫落 ┃晶片焊墊脫落露出晶片色澤 ┃ cr ┃
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┃ 8 ┃支架錯位 ┃支架陰陽極偏移寬度大于三分之一 ┃ mi ┃
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┃ 9 ┃漏固 ┃支架該固晶位置而沒有晶片 ┃ cr ┃
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┃ 10 ┃混固 ┃一批材料中有兩種以上不同光色、電性的晶片 ┃ cr ┃
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┃ 11 ┃多固 ┃所有的固晶點比要求多一個以上的晶片 ┃ cr ┃
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┃ 12 ┃晶片重疊 ┃兩個晶片上下重疊 ┃ cr ┃
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┃ 13 ┃晶片翻倒 ┃晶片底部或側面朝上 ┃ cr ┃
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┃ 14 ┃晶片傾斜 ┃晶片的底部有一邊偏離水平面 ┃ ma ┃
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┃ 15 ┃膠過多 ┃膠的高度超出晶片高度的1/3 ┃ ma ┃
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┃ 16 ┃銀膠短路 ┃支架陰陽極因銀膠連接短路 ┃ cr ┃
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┃ 17 ┃偏固 ┃晶片偏離固晶中心位置1/2 ┃ ma ┃
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┃ 18 ┃晶片破損 ┃晶片破損面積大于1/5 ┃ ma ┃
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表3-4焊線半成品檢驗規范
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┃序號 ┃ 項 目 ┃ 檢驗判定說明 ┃不良判別 ┃
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┃ l ┃漏焊 ┃焊墊及第二焊點面皆無焊點痕跡 ┃ cr ┃
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┃ 2 ┃斷線 ┃第一與第二點之間任何一處斷線 ┃ cr ┃
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┃ 3 ┃塌線 ┃第一焊點塌線,金線與品片邊緣接觸或塌線連接杯與支架兩點造成短路 ┃ cr ┃
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┃ 4 ┃虛焊 ┃焊墊問題或壓力不夠造成第一點或第二點松焊 ┃ cr ┃
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┃ 5 ┃焊墊打穿 ┃焊墊打穿的部分已露出晶片光澤 ┃ cr ┃
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┃ 6 ┃晶片松動 ┃焊線后晶片底部銀膠碎裂或晶片懸浮造成晶片松動 ┃ cr ┃
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┃ 7 ┃晶片碎裂 ┃晶片表面或側面出現裂痕或晶片呈粉碎狀 ┃ cr ┃
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┃ 8 ┃拉直線 ┃第一點與第二點連接成直線狀 ┃ cr ┃
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┃ 9 ┃方向錯誤 ┃藍、白光、雙色類產品焊線方向反向或交叉 ┃ cr ┃
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┃ 10 ┃尾線太長 ┃尾線超出晶片邊緣或第二點留有線尾 ┃ ma ┃
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┃ 11 ┃弧度過高 ┃焊線弧度大于1個晶片高度以上(或以支架面為基準、弧度高度超過16 mil) ┃ ma ┃
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┃ 12 ┃弧度過低 ┃焊線弧度小于1/2個晶片高度(從晶片鋁膜算起) ┃ ma ┃
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┃ 13 ┃偏焊 ┃焊點與焊墊接觸面積小于焊墊面積的2/3 ┃ ma ┃
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┃ 14 ┃線球餅狀 ┃線球過大或成餅狀 ┃ ma ┃
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┃ 15 ┃倒線 ┃弧度偏向一邊 ┃ ma ┃
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┃ 16 ┃支架錯位 ┃第一點與第二點不在同一平面位置 ┃ ma ┃
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(續表)
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┃序號 ┃ 項 目 ┃ 檢驗判定說明 ┃不良判別 ┃
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┃ 17 ┃焊線相連 ┃因機器切線失誤造成連續焊線 ┃ ma ┃
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┃ 18 ┃金球大小 ┃金球過大超過亮光區或者球過小等于線徑 ┃ ma ┃
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┃ 19 ┃弧度變形 ┃線弧呈s形或其他不規格形狀 ┃ ma ┃
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┃ 20 ┃金球重疊 ┃焊墊上有兩個焊點以上 ┃ ma ┃
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┃ 21 ┃雜線 ┃支架上有造成短路的導電雜物或者雜線 ┃ ma ┃
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┃ 22 ┃拉力不足 ┃1.0 mil金線拉力不足6g,1.2 mil金線拉力不足13 g ┃ ma ┃
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表3-5灌膠站半成品檢驗規范
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┃序號 ┃ 項 目 ┃ 檢驗判定說明 ┃不良判別 ┃
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┃ 1 ┃配膠錯誤 ┃配膠時所用膠水規格、比例不正確(與生產工作單不符) ┃ cr ┃
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┃ 2 ┃剪錯卡點 ┃插支架使用的卡點與生產工作單要求的模粒卡點不符 ┃ cr ┃
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┃ 3 ┃灌膠混料 ┃所插支架與生產工作單要求不符 ┃ cr ┃
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┃ 4 ┃灌錯型號 ┃生產作業的型號與生產工作單的型號所使用的原物料不相符 ┃ cr ┃
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┃ 5 ┃膠色異樣 ┃膠體的顏色與生產工作單要求的顏色差異明顯(參照樣品) ┃ cr ┃
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┃ 6 ┃用錯模粒 ┃生產使用時的模粒型號規格與生產工作單要求不符 ┃ cr ┃
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┃ 7 ┃膠體未干 ┃膠體離模時膠水未凝固或硬度不夠且有變形或裂痕現象 ┃ ma ┃
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┃ 8 ┃杯碗氣泡 ┃封膠時空氣滯留于支架碗內形成泡狀小球狀 ┃ ma ┃
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┃ 9 ┃支架插反 ┃插支架所插方向與生產工作單要求不符 ┃ ma ┃
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┃ 10 ┃模粒刮傷 ┃膠體表面有裂痕或刮傷痕跡 ┃ ma ┃
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┃ 1l ┃多膠或少膠 ┃膠體(指帽沿)都份多,少膠與正常相比超過0.2 mm以上 ┃ ma ┃
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┃ 12 ┃支架插偏 ┃支架插入模粒內未在模粒中心位 ┃ ma ┃
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┃ 13 ┃支架粘膠 ┃支架pin粘有膠 ┃ ma ┃
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┃ 14 ┃裂膠 ┃因配膠錯誤或烘烤問題,造成離模后膠體裂膠 ┃ ma ┃
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┃ 15 ┃膠體氣泡 ┃膠體表面有針孔狀之氣泡或膠體內形成針孔狀之氣泡 ┃ ml ┃
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┃ 16 ┃膠體毛邊 ┃膠體(指帽沿)部分四周有殘膠造成毛邊 ┃ ml ┃
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表3-6半成品抽樣檢查判定規范
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┃ 工站 ┃ 抽樣檢查判定標準 ┃
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┃ ┃ 依《led-lamp半成品檢驗規范》(固晶站)檢驗項目內容進行檢驗 ┃
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┃ ┃ 嚴重缺陷(cr類):允收水準,ac= o/re=1,可修復類全退(特殊情形根據實際情況另做處理) ┃
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┃ ┃ 主要缺點(ma類): ┃
┃ 固 ┃ (1)可修復類不良總數占抽驗量(以0.5 k為單位)0.5%以上全退(如晶片傾斜、晶片破損、雜物、鋁墊刺 ┃
┃ 晶 ┃傷、焊墊粘膠、位置不當、支架錯位等可退回重修); ┃
┃ ┃ (2)不可修復類:如銀膠過多或過少、杯壁粘膠等,無法修復的占抽驗量的1%以上時應發出“品質異常處 ┃
┃ ┃理聯絡單”: ┃
┃ ┃ (3)不良總數占抽驗量(以0.5k為單位)0.5%以下,只對抽驗可修復產品重修 ┃
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┃ ┃ 抽驗水準:普通產品每批抽20%,藍、白光,雙色類產品每批抽40%(以0.5 k為最小單位) ┃
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(續表)
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┃ 工站 ┃ 抽樣檢查判定標準 ┃
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┃ ┃ 依《led-lamp半成品檢驗規范》(焊線站)檢驗項目內容進行檢驗 ┃
┃ ┣━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ ┃ 嚴重缺點(cr類):允收水準,ac= o/re=1,可修復類全退(特殊情形根據實際情況另做處理) ┃
┃ ┃ 另外,對掉晶不良,掉晶超過抽驗量(普通類產品2%、藍、白光、雙色類1%)需進行補晶(補晶以一次 ┃
┃ ┃為限) ┃
┃ ┣━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ 焊 ┃ 主要缺點(ma類):允收水準,可修復類不良總數占抽驗量(以0.5 k為單位)0.5%以上全退 ┃
┃ ┣━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ 線 ┃ 可修復類:如尾線太長、弧度過高或過低、偏焊、倒線、支架錯位、焊線相連、弧度彎曲、雜線、拉力不足 ┃
┃ ┃等,可退回重修 ┃
┃ ┣━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ ┃ 不可修復類:如線球餅狀、金球重疊等,無法修復的占抽驗量1%以上時應發出“品質異常處理聯絡單”。不 ┃
┃ ┃良總數占抽驗量(以0.5 k為單位)0.50/0以下時,只對抽驗可修復產品重修 ┃
┃ ┣━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ ┃ 抽驗水準:普通產品每批抽20%,藍、白光、雙色類產品每批抽40%,(以0.5 k為最小單位)測拉力每次抽 ┃
┃ ┃5pcs ┃
┣━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ ┃ 依《led-lamp半成品檢驗規范》(封膠站)檢驗項目內容進行檢驗 ┃
┃ ┣━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ 灌 ┃ 嚴重缺點(cr類):發出“品質異常聯絡單”知會組長、當班主管 ┃
┃ 膠 ┃ ┃
┃ ┣━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ ┃ 主要缺點(ma類)、次要缺點(mi類):知會組長當班主管,若不艮數量、比率超過loqe應發出“品質異常 ┃
┃ ┃處理聯絡單”。可修復類要進行返工處理(可修復類:粘膠氣泡、灌膠氣泡、插反等,在未烘烤前) ┃
┗━━━━┻━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┛
為確保led半成品檢驗作業,使生產過程中的品質得到合理有效的控制,減少不良
品的生產,企業必須按照led lamp半成品檢驗規范標準進行質量檢驗,如表3-3~表3-6
所示。該規范適用于固晶、焊線、灌膠、生產過程中的一切品質控制作業。在這幾個表中,
次要缺陷為mi,主要缺陷為ma,致命缺陷為cr。
表3-3固晶站半成品檢驗規范
┏━━━━┳━━━━━┳━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┳━━━━━━━┓
┃ 序號 ┃ 項 目 ┃ 檢驗判定說明 ┃ 不良判別 ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 1 ┃支架變色 ┃支架氧化生銹,影響外觀及焊線 ┃ mi ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 2 ┃杯壁粘膠 ┃支架大碗內壁粘有膠,且大于內壁的四分之一 ┃ mi ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 3 ┃焊墊刺傷 ┃晶片焊墊刺傷面積大于四分之- pad ' ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 4 ┃銀膠過少 ┃銀膠高度低于晶片高度的四分之一 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 5 ┃晶片懸浮 ┃晶片只有底面與膠接觸而懸浮于膠的表面 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 6 ┃推力不足 ┃固晶推力小于90g ┃ mi ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 7 ┃焊墊脫落 ┃晶片焊墊脫落露出晶片色澤 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 8 ┃支架錯位 ┃支架陰陽極偏移寬度大于三分之一 ┃ mi ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 9 ┃漏固 ┃支架該固晶位置而沒有晶片 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 10 ┃混固 ┃一批材料中有兩種以上不同光色、電性的晶片 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 11 ┃多固 ┃所有的固晶點比要求多一個以上的晶片 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 12 ┃晶片重疊 ┃兩個晶片上下重疊 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 13 ┃晶片翻倒 ┃晶片底部或側面朝上 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 14 ┃晶片傾斜 ┃晶片的底部有一邊偏離水平面 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 15 ┃膠過多 ┃膠的高度超出晶片高度的1/3 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 16 ┃銀膠短路 ┃支架陰陽極因銀膠連接短路 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 17 ┃偏固 ┃晶片偏離固晶中心位置1/2 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 18 ┃晶片破損 ┃晶片破損面積大于1/5 ┃ ma ┃
┗━━━━┻━━━━━┻━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┻━━━━━━━┛
表3-4焊線半成品檢驗規范
┏━━━━┳━━━━━┳━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┳━━━━━┓
┃序號 ┃ 項 目 ┃ 檢驗判定說明 ┃不良判別 ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ l ┃漏焊 ┃焊墊及第二焊點面皆無焊點痕跡 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 2 ┃斷線 ┃第一與第二點之間任何一處斷線 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 3 ┃塌線 ┃第一焊點塌線,金線與品片邊緣接觸或塌線連接杯與支架兩點造成短路 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 4 ┃虛焊 ┃焊墊問題或壓力不夠造成第一點或第二點松焊 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 5 ┃焊墊打穿 ┃焊墊打穿的部分已露出晶片光澤 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 6 ┃晶片松動 ┃焊線后晶片底部銀膠碎裂或晶片懸浮造成晶片松動 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 7 ┃晶片碎裂 ┃晶片表面或側面出現裂痕或晶片呈粉碎狀 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 8 ┃拉直線 ┃第一點與第二點連接成直線狀 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 9 ┃方向錯誤 ┃藍、白光、雙色類產品焊線方向反向或交叉 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 10 ┃尾線太長 ┃尾線超出晶片邊緣或第二點留有線尾 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 11 ┃弧度過高 ┃焊線弧度大于1個晶片高度以上(或以支架面為基準、弧度高度超過16 mil) ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 12 ┃弧度過低 ┃焊線弧度小于1/2個晶片高度(從晶片鋁膜算起) ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 13 ┃偏焊 ┃焊點與焊墊接觸面積小于焊墊面積的2/3 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 14 ┃線球餅狀 ┃線球過大或成餅狀 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 15 ┃倒線 ┃弧度偏向一邊 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 16 ┃支架錯位 ┃第一點與第二點不在同一平面位置 ┃ ma ┃
┗━━━━┻━━━━━┻━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┻━━━━━┛
(續表)
┏━━━━┳━━━━━┳━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┳━━━━━┓
┃序號 ┃ 項 目 ┃ 檢驗判定說明 ┃不良判別 ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 17 ┃焊線相連 ┃因機器切線失誤造成連續焊線 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 18 ┃金球大小 ┃金球過大超過亮光區或者球過小等于線徑 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 19 ┃弧度變形 ┃線弧呈s形或其他不規格形狀 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 20 ┃金球重疊 ┃焊墊上有兩個焊點以上 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 21 ┃雜線 ┃支架上有造成短路的導電雜物或者雜線 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 22 ┃拉力不足 ┃1.0 mil金線拉力不足6g,1.2 mil金線拉力不足13 g ┃ ma ┃
┗━━━━┻━━━━━┻━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┻━━━━━┛
表3-5灌膠站半成品檢驗規范
┏━━━━┳━━━━━━┳━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┳━━━━━┓
┃序號 ┃ 項 目 ┃ 檢驗判定說明 ┃不良判別 ┃
┣━━━━╋━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 1 ┃配膠錯誤 ┃配膠時所用膠水規格、比例不正確(與生產工作單不符) ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 2 ┃剪錯卡點 ┃插支架使用的卡點與生產工作單要求的模粒卡點不符 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 3 ┃灌膠混料 ┃所插支架與生產工作單要求不符 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 4 ┃灌錯型號 ┃生產作業的型號與生產工作單的型號所使用的原物料不相符 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 5 ┃膠色異樣 ┃膠體的顏色與生產工作單要求的顏色差異明顯(參照樣品) ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 6 ┃用錯模粒 ┃生產使用時的模粒型號規格與生產工作單要求不符 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 7 ┃膠體未干 ┃膠體離模時膠水未凝固或硬度不夠且有變形或裂痕現象 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 8 ┃杯碗氣泡 ┃封膠時空氣滯留于支架碗內形成泡狀小球狀 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 9 ┃支架插反 ┃插支架所插方向與生產工作單要求不符 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 10 ┃模粒刮傷 ┃膠體表面有裂痕或刮傷痕跡 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 1l ┃多膠或少膠 ┃膠體(指帽沿)都份多,少膠與正常相比超過0.2 mm以上 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 12 ┃支架插偏 ┃支架插入模粒內未在模粒中心位 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 13 ┃支架粘膠 ┃支架pin粘有膠 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 14 ┃裂膠 ┃因配膠錯誤或烘烤問題,造成離模后膠體裂膠 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 15 ┃膠體氣泡 ┃膠體表面有針孔狀之氣泡或膠體內形成針孔狀之氣泡 ┃ ml ┃
┣━━━━╋━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 16 ┃膠體毛邊 ┃膠體(指帽沿)部分四周有殘膠造成毛邊 ┃ ml ┃
┗━━━━┻━━━━━━┻━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┻━━━━━┛
表3-6半成品抽樣檢查判定規范
┏━━━━┳━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┓
┃ 工站 ┃ 抽樣檢查判定標準 ┃
┣━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ ┃ 依《led-lamp半成品檢驗規范》(固晶站)檢驗項目內容進行檢驗 ┃
┃ ┣━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ ┃ 嚴重缺陷(cr類):允收水準,ac= o/re=1,可修復類全退(特殊情形根據實際情況另做處理) ┃
┃ ┣━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ ┃ 主要缺點(ma類): ┃
┃ 固 ┃ (1)可修復類不良總數占抽驗量(以0.5 k為單位)0.5%以上全退(如晶片傾斜、晶片破損、雜物、鋁墊刺 ┃
┃ 晶 ┃傷、焊墊粘膠、位置不當、支架錯位等可退回重修); ┃
┃ ┃ (2)不可修復類:如銀膠過多或過少、杯壁粘膠等,無法修復的占抽驗量的1%以上時應發出“品質異常處 ┃
┃ ┃理聯絡單”: ┃
┃ ┃ (3)不良總數占抽驗量(以0.5k為單位)0.5%以下,只對抽驗可修復產品重修 ┃
┃ ┣━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ ┃ 抽驗水準:普通產品每批抽20%,藍、白光,雙色類產品每批抽40%(以0.5 k為最小單位) ┃
┗━━━━┻━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┛
(續表)
┏━━━━┳━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┓
┃ 工站 ┃ 抽樣檢查判定標準 ┃
┣━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ ┃ 依《led-lamp半成品檢驗規范》(焊線站)檢驗項目內容進行檢驗 ┃
┃ ┣━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ ┃ 嚴重缺點(cr類):允收水準,ac= o/re=1,可修復類全退(特殊情形根據實際情況另做處理) ┃
┃ ┃ 另外,對掉晶不良,掉晶超過抽驗量(普通類產品2%、藍、白光、雙色類1%)需進行補晶(補晶以一次 ┃
┃ ┃為限) ┃
┃ ┣━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ 焊 ┃ 主要缺點(ma類):允收水準,可修復類不良總數占抽驗量(以0.5 k為單位)0.5%以上全退 ┃
┃ ┣━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ 線 ┃ 可修復類:如尾線太長、弧度過高或過低、偏焊、倒線、支架錯位、焊線相連、弧度彎曲、雜線、拉力不足 ┃
┃ ┃等,可退回重修 ┃
┃ ┣━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ ┃ 不可修復類:如線球餅狀、金球重疊等,無法修復的占抽驗量1%以上時應發出“品質異常處理聯絡單”。不 ┃
┃ ┃良總數占抽驗量(以0.5 k為單位)0.50/0以下時,只對抽驗可修復產品重修 ┃
┃ ┣━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ ┃ 抽驗水準:普通產品每批抽20%,藍、白光、雙色類產品每批抽40%,(以0.5 k為最小單位)測拉力每次抽 ┃
┃ ┃5pcs ┃
┣━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ ┃ 依《led-lamp半成品檢驗規范》(封膠站)檢驗項目內容進行檢驗 ┃
┃ ┣━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ 灌 ┃ 嚴重缺點(cr類):發出“品質異常聯絡單”知會組長、當班主管 ┃
┃ 膠 ┃ ┃
┃ ┣━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┫
┃ ┃ 主要缺點(ma類)、次要缺點(mi類):知會組長當班主管,若不艮數量、比率超過loqe應發出“品質異常 ┃
┃ ┃處理聯絡單”。可修復類要進行返工處理(可修復類:粘膠氣泡、灌膠氣泡、插反等,在未烘烤前) ┃
┗━━━━┻━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┛
品的生產,企業必須按照led lamp半成品檢驗規范標準進行質量檢驗,如表3-3~表3-6
所示。該規范適用于固晶、焊線、灌膠、生產過程中的一切品質控制作業。在這幾個表中,
次要缺陷為mi,主要缺陷為ma,致命缺陷為cr。
表3-3固晶站半成品檢驗規范
┏━━━━┳━━━━━┳━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┳━━━━━━━┓
┃ 序號 ┃ 項 目 ┃ 檢驗判定說明 ┃ 不良判別 ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 1 ┃支架變色 ┃支架氧化生銹,影響外觀及焊線 ┃ mi ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 2 ┃杯壁粘膠 ┃支架大碗內壁粘有膠,且大于內壁的四分之一 ┃ mi ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 3 ┃焊墊刺傷 ┃晶片焊墊刺傷面積大于四分之- pad ' ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 4 ┃銀膠過少 ┃銀膠高度低于晶片高度的四分之一 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 5 ┃晶片懸浮 ┃晶片只有底面與膠接觸而懸浮于膠的表面 ┃ ma ┃
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┃ 6 ┃推力不足 ┃固晶推力小于90g ┃ mi ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 7 ┃焊墊脫落 ┃晶片焊墊脫落露出晶片色澤 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 8 ┃支架錯位 ┃支架陰陽極偏移寬度大于三分之一 ┃ mi ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 9 ┃漏固 ┃支架該固晶位置而沒有晶片 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 10 ┃混固 ┃一批材料中有兩種以上不同光色、電性的晶片 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 11 ┃多固 ┃所有的固晶點比要求多一個以上的晶片 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 12 ┃晶片重疊 ┃兩個晶片上下重疊 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 13 ┃晶片翻倒 ┃晶片底部或側面朝上 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 14 ┃晶片傾斜 ┃晶片的底部有一邊偏離水平面 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 15 ┃膠過多 ┃膠的高度超出晶片高度的1/3 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 16 ┃銀膠短路 ┃支架陰陽極因銀膠連接短路 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 17 ┃偏固 ┃晶片偏離固晶中心位置1/2 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━━━┫
┃ 18 ┃晶片破損 ┃晶片破損面積大于1/5 ┃ ma ┃
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表3-4焊線半成品檢驗規范
┏━━━━┳━━━━━┳━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┳━━━━━┓
┃序號 ┃ 項 目 ┃ 檢驗判定說明 ┃不良判別 ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ l ┃漏焊 ┃焊墊及第二焊點面皆無焊點痕跡 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 2 ┃斷線 ┃第一與第二點之間任何一處斷線 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 3 ┃塌線 ┃第一焊點塌線,金線與品片邊緣接觸或塌線連接杯與支架兩點造成短路 ┃ cr ┃
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┃ 4 ┃虛焊 ┃焊墊問題或壓力不夠造成第一點或第二點松焊 ┃ cr ┃
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┃ 5 ┃焊墊打穿 ┃焊墊打穿的部分已露出晶片光澤 ┃ cr ┃
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┃ 6 ┃晶片松動 ┃焊線后晶片底部銀膠碎裂或晶片懸浮造成晶片松動 ┃ cr ┃
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┃ 7 ┃晶片碎裂 ┃晶片表面或側面出現裂痕或晶片呈粉碎狀 ┃ cr ┃
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┃ 8 ┃拉直線 ┃第一點與第二點連接成直線狀 ┃ cr ┃
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┃ 9 ┃方向錯誤 ┃藍、白光、雙色類產品焊線方向反向或交叉 ┃ cr ┃
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┃ 10 ┃尾線太長 ┃尾線超出晶片邊緣或第二點留有線尾 ┃ ma ┃
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┃ 11 ┃弧度過高 ┃焊線弧度大于1個晶片高度以上(或以支架面為基準、弧度高度超過16 mil) ┃ ma ┃
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┃ 12 ┃弧度過低 ┃焊線弧度小于1/2個晶片高度(從晶片鋁膜算起) ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 13 ┃偏焊 ┃焊點與焊墊接觸面積小于焊墊面積的2/3 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 14 ┃線球餅狀 ┃線球過大或成餅狀 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 15 ┃倒線 ┃弧度偏向一邊 ┃ ma ┃
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┃ 16 ┃支架錯位 ┃第一點與第二點不在同一平面位置 ┃ ma ┃
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(續表)
┏━━━━┳━━━━━┳━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┳━━━━━┓
┃序號 ┃ 項 目 ┃ 檢驗判定說明 ┃不良判別 ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 17 ┃焊線相連 ┃因機器切線失誤造成連續焊線 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 18 ┃金球大小 ┃金球過大超過亮光區或者球過小等于線徑 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 19 ┃弧度變形 ┃線弧呈s形或其他不規格形狀 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 20 ┃金球重疊 ┃焊墊上有兩個焊點以上 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 21 ┃雜線 ┃支架上有造成短路的導電雜物或者雜線 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 22 ┃拉力不足 ┃1.0 mil金線拉力不足6g,1.2 mil金線拉力不足13 g ┃ ma ┃
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表3-5灌膠站半成品檢驗規范
┏━━━━┳━━━━━━┳━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━┳━━━━━┓
┃序號 ┃ 項 目 ┃ 檢驗判定說明 ┃不良判別 ┃
┣━━━━╋━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 1 ┃配膠錯誤 ┃配膠時所用膠水規格、比例不正確(與生產工作單不符) ┃ cr ┃
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┃ 2 ┃剪錯卡點 ┃插支架使用的卡點與生產工作單要求的模粒卡點不符 ┃ cr ┃
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┃ 3 ┃灌膠混料 ┃所插支架與生產工作單要求不符 ┃ cr ┃
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┃ 4 ┃灌錯型號 ┃生產作業的型號與生產工作單的型號所使用的原物料不相符 ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 5 ┃膠色異樣 ┃膠體的顏色與生產工作單要求的顏色差異明顯(參照樣品) ┃ cr ┃
┣━━━━╋━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 6 ┃用錯模粒 ┃生產使用時的模粒型號規格與生產工作單要求不符 ┃ cr ┃
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┃ 7 ┃膠體未干 ┃膠體離模時膠水未凝固或硬度不夠且有變形或裂痕現象 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 8 ┃杯碗氣泡 ┃封膠時空氣滯留于支架碗內形成泡狀小球狀 ┃ ma ┃
┣━━━━╋━━━━━━╋━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━╋━━━━━┫
┃ 9 ┃支架插反 ┃插支架所插方向與生產工作單要求不符 ┃ ma ┃
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┃ 10 ┃模粒刮傷 ┃膠體表面有裂痕或刮傷痕跡 ┃ ma ┃
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┃ 1l ┃多膠或少膠 ┃膠體(指帽沿)都份多,少膠與正常相比超過0.2 mm以上 ┃ ma ┃
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┃ 12 ┃支架插偏 ┃支架插入模粒內未在模粒中心位 ┃ ma ┃
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┃ 13 ┃支架粘膠 ┃支架pin粘有膠 ┃ ma ┃
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┃ 14 ┃裂膠 ┃因配膠錯誤或烘烤問題,造成離模后膠體裂膠 ┃ ma ┃
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┃ 15 ┃膠體氣泡 ┃膠體表面有針孔狀之氣泡或膠體內形成針孔狀之氣泡 ┃ ml ┃
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┃ 16 ┃膠體毛邊 ┃膠體(指帽沿)部分四周有殘膠造成毛邊 ┃ ml ┃
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表3-6半成品抽樣檢查判定規范
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┃ 工站 ┃ 抽樣檢查判定標準 ┃
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┃ ┃ 依《led-lamp半成品檢驗規范》(固晶站)檢驗項目內容進行檢驗 ┃
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┃ ┃ 嚴重缺陷(cr類):允收水準,ac= o/re=1,可修復類全退(特殊情形根據實際情況另做處理) ┃
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┃ ┃ 主要缺點(ma類): ┃
┃ 固 ┃ (1)可修復類不良總數占抽驗量(以0.5 k為單位)0.5%以上全退(如晶片傾斜、晶片破損、雜物、鋁墊刺 ┃
┃ 晶 ┃傷、焊墊粘膠、位置不當、支架錯位等可退回重修); ┃
┃ ┃ (2)不可修復類:如銀膠過多或過少、杯壁粘膠等,無法修復的占抽驗量的1%以上時應發出“品質異常處 ┃
┃ ┃理聯絡單”: ┃
┃ ┃ (3)不良總數占抽驗量(以0.5k為單位)0.5%以下,只對抽驗可修復產品重修 ┃
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┃ ┃ 抽驗水準:普通產品每批抽20%,藍、白光,雙色類產品每批抽40%(以0.5 k為最小單位) ┃
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(續表)
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┃ 工站 ┃ 抽樣檢查判定標準 ┃
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┃ ┃ 依《led-lamp半成品檢驗規范》(焊線站)檢驗項目內容進行檢驗 ┃
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┃ ┃ 嚴重缺點(cr類):允收水準,ac= o/re=1,可修復類全退(特殊情形根據實際情況另做處理) ┃
┃ ┃ 另外,對掉晶不良,掉晶超過抽驗量(普通類產品2%、藍、白光、雙色類1%)需進行補晶(補晶以一次 ┃
┃ ┃為限) ┃
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┃ 焊 ┃ 主要缺點(ma類):允收水準,可修復類不良總數占抽驗量(以0.5 k為單位)0.5%以上全退 ┃
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┃ 線 ┃ 可修復類:如尾線太長、弧度過高或過低、偏焊、倒線、支架錯位、焊線相連、弧度彎曲、雜線、拉力不足 ┃
┃ ┃等,可退回重修 ┃
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┃ ┃ 不可修復類:如線球餅狀、金球重疊等,無法修復的占抽驗量1%以上時應發出“品質異常處理聯絡單”。不 ┃
┃ ┃良總數占抽驗量(以0.5 k為單位)0.50/0以下時,只對抽驗可修復產品重修 ┃
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┃ ┃ 抽驗水準:普通產品每批抽20%,藍、白光、雙色類產品每批抽40%,(以0.5 k為最小單位)測拉力每次抽 ┃
┃ ┃5pcs ┃
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┃ ┃ 依《led-lamp半成品檢驗規范》(封膠站)檢驗項目內容進行檢驗 ┃
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┃ 灌 ┃ 嚴重缺點(cr類):發出“品質異常聯絡單”知會組長、當班主管 ┃
┃ 膠 ┃ ┃
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┃ ┃ 主要缺點(ma類)、次要缺點(mi類):知會組長當班主管,若不艮數量、比率超過loqe應發出“品質異常 ┃
┃ ┃處理聯絡單”。可修復類要進行返工處理(可修復類:粘膠氣泡、灌膠氣泡、插反等,在未烘烤前) ┃
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