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OC5209

發布時間:2019/9/2 15:32:00 訪問次數:282 發布企業:深圳市哲瀚電子科技有限公司

哲瀚電子科技代理降壓恒流 OC5205OC5207OC5209OC5203 OC5265 OC5266 OC5267 0755-83237951

OC5209、OC5205工作電壓從5.5v 到 30v,提供可調的輸出電流。根據不同的輸入電壓和外部器件,可以驅動供高達數十瓦的 LED。

OC5207、OC5209、OC5265內置功率開關,采用高端電流檢測電路,以及兼容 PWM 和模擬調光的調光腳 DIM。當 DIM 腳電壓低于 0.3v時輸出關斷,進入待機狀態。

OC5209是一款連續電感電流導通模式的降壓型 LED 恒流驅動器,用于驅動一個或多個 LED 燈串。OC5209 工作電壓從5.5v 到 30v,提供可調的輸出電流,最大輸出電流可達到 1A。根據不同的輸入電壓和外部器件,OC5209 可以驅動供高達數十瓦的 LED。

OC5209 內置功率開關,采用高端電流檢測電路,以及兼容 PWM 和模擬調光的調光腳 DIM。當 DIM 腳電壓低于 0.3v時輸出關斷,進入待機狀態。
OC5209 內置過溫保護電路,當芯片達到過溫保護點進入過溫保護模式,輸出電流逐漸下降以提高系統可靠性。
OC5209 采用專利的電路架構使得在低壓差工作時輸出電流無過沖,提高 LED工作壽命,OC5209 采用專利的恒流電路具有優異的負載調整率和線性調整率。

OC5209 采用 SOT89-5 封裝。

OC5209特點:
◆最大輸出電流:1A
◆高效率:96%
◆優異的負載調整率和線性調整率
◆高端電流檢測
◆最大輝度控制頻率:20KHz
◆滯環控制,無需環路補償
◆最高工作頻率:1MHz
◆電流精度:±3%
◆寬輸入電壓:5.5V~30V
◆智能過溫保護
◆低壓差無過沖
OC5209應用:
◆LED 備用燈,信號燈
◆低壓 LED 射燈代替鹵素燈

◆汽車照明


升壓恒流:

OC6701 3.2~100V 大于輸入電壓2V以上即可3A以內

OC6700 3.2~60V 大于輸入電壓2V以上即可 2A以內

OC6702 3.2~100V 大于輸入電壓2V以上即可 1A以內

降壓恒流:

OC5021 3.2~100V最少低于輸出電壓1V以上就可以正常工作5A以內
OC5020 3.2~100V最少低于輸出電壓1V以上就可以正常工作 2A以內
OC5022 3.2~60V 最少低于輸出電壓1V以上就可以正常工作 3A以內
OC5028 3.2~100V 最少低于輸出電壓1V以上就可以正常工作1.5A以內
OC5011 5~40V 最少低于輸出電壓1V以上就可以正常工作5A以內
OC5010 5~40V 最少低于輸出電壓1V以上就可以正常工作2A以內

LED DRIVER DC-DC升降壓恒流

OC4001 5~100V 3.2~100V 3A

LED DRIVER DC-DC線性降壓恒流

OC7135 2.5-7V 低于等于輸入電壓即可固定<400mA

OC7131 2.5-7V 低于等于輸入電壓即可 可外擴,實際電流決定于MOS管功耗
OC7130 2.5-30V 低于等于輸入電壓即可 實際電流決定于IC整體耗散功率

LED DRIVER DC-DC降壓恒流專用IC系列:LED遠近光燈專用芯片

OC5200 3.2~100V最少低于輸出電壓1V以上就可以正常工作 2A以內
OC5208 3.2~100V最少低于輸出電壓1V以上就可以正常工作 1.5A以內

LED DRIVER DC-DC降壓恒流專用IC系列:多功能LED手電筒專用芯片

OC5351 3.2~100V最少低于輸出電壓1V以上就可以正常工作5A以內
OC5331 3.2~100V最少低于輸出電壓1V以上就可以正常工作 5A以內

DC-DC降壓恒壓

OC5801 8~100V最少低于輸出電壓5V以上就可以正常工作 3A以內

OC5800 8~100V最少低于輸出電壓5V以上就可以正常工作2A以內

引領創新天線測試技術的系統生產廠商——法國Microwave Vision Group (以下簡稱MVG) 近日宣布在其備受業界歡迎的MiniLAB系統中集成了RSE和無源天線測量功能。MiniLAB系統現不僅可以進行高準確度的OTA測試,還能提供無源測量,并為在LTE設備上測量RSE提供了一個全新方案。

MVG發布MiniLAB系統新功能  為在LTE設備上測量RSE提供了 全新方案

  在無源天線測量上,MiniLAB的電子掃描多探頭陣列封裝在高隔離暗室中,可加快測量速度,并為直徑達30 cm *的被測設備繪制天線輻射圖,使其成為優化各種設備天線性能的理想解決方案。

  輻射雜散發射(RSE)是指被測設備(DUT)發出的所有非基本發射。高水平的輻射發射會對某些特定無線產品帶來功能上的挑戰,干擾其他無線設備或無線電系統,或者改變設備本身的運行效率。

  出于這個原因,諸如國際電信聯盟(ITU)、歐洲無線電和電信終端設備(R&TTE)指令以及聯邦通信委員會(FCC)的標準化機構對在無線設備上測量RSE進行了嚴格的測試要求規定。這些測試要求旨在消除被測設備附近有其他無線設備時的干擾風險。

  過去一直以來都是使用垂直掃描機械運動來測量RSE,以便在方位角旋轉時監控設備。但這與許多傳統測試方法一樣,在設計和生產過程中非常耗時,而對廠商來說上市時間又是至關重要的。

  相比較,MiniLAB采用多探頭技術,為在LTE和其他有源設備上測量提供了一個全新的RSE測試方案。在提供準確、穩定的數據同時,可以更快速、更詳細、更經濟地解決企業的RSE測試需求。

  使用MiniLAB可以大幅縮短測量時間和提交精確測量數據,其集成的多探頭陣列采用電子掃描來測量無線設備,使用戶能夠更輕松、更快速地在高達6 GHz的LTE頻段測量RSE。測量完成后,20秒內即能獲得RSE測量結果。

  MiniLAB配備全電波暗室,屏蔽效能 > 100 dB,并提供高動態范圍,可測量傳輸無線信號和周圍發射的峰值電平而不會造成任何失真。

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