如圖2 -22所示， ADM202EARNZ由光電檢測器3探測待測物體1所輻射出的功率、光譜分布等參數，以確定待測物體的存在，根據所處方位以及其光譜的分布情況來分析它的物質成分及性質，如報火警、偵察、跟蹤、武器制導、地形地貌普查分析、光譜分析及太陽能利用等。下面以全輻射測溫為例說明這種方式的應用情沉。

   由斯忒藩一玻耳茲曼( Stefan - Boltzman)定律可知，物件的全輻射出射度s為比輻射率，對于某一物體，其為常數；盯為斯忒藩一波爾茲曼常數；丁為絕對溫度。在近距離測量時，可不考慮大氣對輻射的吸收作用，則光電檢測器輸出的電壓信號Vs =M。f，f為光電變換系數，將式(2 - 34)代人上式得 式(2 -35)表明，光電檢測器輸出的電壓信號vs是溫度r的函數，與溫度丁的四次方成正比。因此，可以通過測量輸出電壓vs來測量輻射體的溫度。

   如圖2 -23所示，由待測物體2把光反射到光電檢測器上。如果是鏡面反射，則光按一定方向反射，它往往被用來判斷光信號的有無，可用于光電準直、電機等轉動物體的轉速測量等。如果是漫反射，則一束平行光照射到某一表面上時，光向各個方向反射出去。因此在漫反射某一位置上的光電檢測器只能接收到部分反射光，接收到的光通量的大小與產生漫反射表面材料的性質、表面粗糙度以及表面缺陷等因素有關。因而，采用這種方式可檢測物體的外觀質量。在產品外觀質量檢測時，光電檢測器輸出信號可表示為

    Vs=Ev(r2-rl )Sg    (2-36)

    式中，Ev是被檢測表面的光照度；占是光電變換系數；r2是無缺陷表面的反射率；ri是缺陷表面的反射率；S是光電檢測器有效視場內缺陷所占面積。

   由式(2 -36)可知，當Ey、r2和s為確定值時，vs僅與ri和Is有關，而缺陷表面反射率ri與缺陷的性質有關。所以，從Vs值的大小可以判斷出缺陷的大小和面積。另外，激光測距、激光刷導、主動式夜視、電視攝像、文字判讀等方面的應用均屬于這種方式。