艾林( Eyring)模型是從量子力學推導出來的，它表示某些電子元器件或材料參數退化的時間速率僅僅與由溫度所引起的物理或化學反應速率有關.

   除了考慮熱應力的作用外， C052K104K5X5CA7301廣義艾林模型還考慮了其他非熱應力s的作用。這對于電子元器件在復雜工作環境下失效的實際情況是比較符合的，其反應速率方程，ecs表示由于菲熱應力對能量分布的調整；e并表示由于非熱應力對激活能的調整。

   在加速壽命試驗中，也有用濕度作為加速變量的，也有同時采用濕度應力和電應力進行加速的。如THB(高溫、高濕、偏置)加速試驗，其主要目的是評價器件的耐潮濕壽命，采用公式為必須指出：上述這些模型僅僅對某一范圍內的應力值適用，在此范圍之外就不一定適用，因為它可能導致失效機理的改變，使用時必須特別慎重。對于電子元器件或材料的加速壽命試驗模型，最常用的是逆冪率和阿倫尼斯模型。