使每個元器件均向“最壞方向”按其最大可能范圍（即設置的容差值）變化，進行一B37930-K5060-C860次電路分析，得到最壞情況分析結果。

   以差分對電路為例，RC1的最壞變化方向是增大，RC2的最壞變化方向是減小，這兩個電阻的容差值為5%，因此，只要將RC1增大5%，將RC2減小5%，就組成了最壞情況。此時的模擬結果是Max(V(out2》等于96.249，這就是在考慮電阻RC1和RC2阻值存在5%容差的情況下，差分對電路的最壞情況輸出電壓。

   表4-1匯總了上述分析過程及分析結果。

    表4-1  差分對電路WC分析過程與結果

   由上述分析過程可見，完成最壞情況分析需要進行的模擬仿真次數等于需要考慮其容差影響的元器件參數個數加2。對羞分對電路，考慮其容差影響的元器件參數有兩個，即電阻RC1和RC2的阻值，因此WC分析全過程共包括4次AC模擬分析。第一次為標稱值分析。第二、第三次分別對RC1和RC2進行靈敏度分析。最后一次為最壞情況分析。