偶然失效期出現在早期失效期之后，是產品G5626P11U的正常工作期，其特點是失效率比早期失效率小得多，且產品穩定。失效率幾乎與時間無關，可近似為一常數。通常所指的使用壽命就是這一時期，這個時期的失效由偶然不確定因素引起，失效發生的時間也是隨機的，故稱為偶然失效期。

   偶然失效期產品的失效規律符合指數分布規律。

   耗損失效期出現在產品的后期，其特點剛好與早期失效期相反。失效率隨試驗或工作時間增加而迅速上升，出現大批失效。耗損失效是由于產品長期使用而產生的損耗、磨損、老化、疲勞等原因所引起的。它是構成元器件本身的材料長期化學、物理不可逆變化所造成的，是產品壽命的“終了”。

   耗損失效期的失效概率分布函數與m>l的威布爾函數所描述的曲線相同。

   但是，對于實際電子產品并不一定都出現上述三個階段。例如，工藝質量且控制很妤的金屬膜電阻有時就不出現早期失效期，又如某些半導體器件沒有發生耗損失效期。至于個別產品由于設計、生產工藝不合理，只有早期失效期和耗損失效期，這是由于產品質量過于低劣，此種產品不能正常使用。從上述“浴盆曲線”也可看出，在成批產品中，有些產品的失效率曲線是遞增型、遞減型和常數型，而宏觀表現出來的是由三種類型的失效率

曲線疊加而成。