離子殘留物(人工測量)。

   按IPC-TM-650中2.3.25節的溶劑萃取測試方法。離子殘 G0505S-1W留物的含量應少于1,56ug/cm2氯化鈉(Nacl)當量。如果采用其他方法檢測時,其靈敏度不應低于上述方法。

   表面絕緣電阻(SIR)。

   推薦以下的測試方法可得知殘留物的特性,以達到流程控制的目的。

   ● 萃取溶劑的電阻率(ROSE):按IPGTM-650中2,3,26或2,3,26.1節進行的ROSE測試,可以測出經過整個生產流程后的組件板的離子污染度。

   ● 離子色譜分析(IC):按IPC-TM-650中2.338節進行的離子色譜分析測試,可以測試出離子的種類,在進行初始流程認證或產品的失效分析時特別有用。

   sIR測試后目視檢查。

   在所有的被元器件遮住的地方都必須把元器件去除,去除時最好采用剪腳的方法,而不能使用化學品或使用加熱的方法。所有的地方需要用10~30倍的放大鏡檢查是否有腐蝕和樹枝形的情況,檢查樹枝形情況時必須使用背光光源。不允許有腐蝕的情況出現,樹枝形不能大于兩個導體間距離的⒛%。