電子元器件參數的離散性較大
發布時間:2016/12/10 17:20:55 訪問次數:689
在圖2.1電路中,當流過偏置電阻R"和R田的電流遠大于晶體管9013的基極電流Ⅰ:時(一般為5~10倍時),則晶體管的靜態工作點可用下式估算交流輸出電阻.
由于電子元器件參數的離散性較大,因此在MAX202IPWR設計和制作晶體管放大電路時,離不開測量和調試技術。在設計前應測量所用元器件的參數,為電路設計提供必要的依據,在完成設計和連接以后,還必須測量和調試放大器的靜態工作點。一個正常工作的放大器,必定是理論設計與實驗相結合的產物。囚此,除了學習放大器的理論知識和設計方法外,還必須掌握必要的測量和調試技術。
放大器的測量和調試一般包括:放大器靜態工作點的測量與調試、消除干擾及放大器各項動態參數的測量與調試等。
在圖2.1電路中,當流過偏置電阻R"和R田的電流遠大于晶體管9013的基極電流Ⅰ:時(一般為5~10倍時),則晶體管的靜態工作點可用下式估算交流輸出電阻.
由于電子元器件參數的離散性較大,因此在MAX202IPWR設計和制作晶體管放大電路時,離不開測量和調試技術。在設計前應測量所用元器件的參數,為電路設計提供必要的依據,在完成設計和連接以后,還必須測量和調試放大器的靜態工作點。一個正常工作的放大器,必定是理論設計與實驗相結合的產物。囚此,除了學習放大器的理論知識和設計方法外,還必須掌握必要的測量和調試技術。
放大器的測量和調試一般包括:放大器靜態工作點的測量與調試、消除干擾及放大器各項動態參數的測量與調試等。
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