電子元器件參數的離散性較大,因此在設計和制作晶體管放大電路時,離不開測量和調試技術。 M25P32-VMF6TP在設計前應測量所用元器件的參數,為電路設計提供必要的依據,在完成設計和連接以后,還必須測量和調試放大器的靜態工作點。一個正常工作的放大器,必定是理論設計與實驗相結合的產物。囚此,除了學習放大器的理論知識和設計方法外,還必須掌握必要的測量和調試技術。

   放大器的測量和調試一般包括:放大器靜態工作點的測量與調試、消除干擾及放大器各項動態參數的測量與調試等。

   放大器靜態工作`點的測量與調試

   靜態工作點的測量

   測量放大器的靜態工作'甙,應在輸人信號Ui=0的情況下進行,即將放大器輸人端對地短接,然后分別選用萬用表中量程合適的直流電流擋和直流電壓擋,測量晶體管的集電極電流Ⅰc及各電極對地的電位。一般實驗中,為了避免斷開集電極,所以采用測量電壓計算出的方法。例如,只要測量出yE,即可用廴≈rE=vE/Re計算,同時也能計算出。為了減小誤差,提高測量精度,應選用內阻較高的直流電壓表。