光導纖維傳感器的出現，在傳遞圖像和檢測技術方面又開拓出一片新的天地，為光電AD9283BRSZ-100檢測技術小型化等開辟了廣闊前景。光纖檢測技術可以解決傳統檢測技術難以解決或無法解決的許多問題，如在噪聲、干擾、污染嚴重的工業過程中檢測，或者在海洋、反應堆中，自動檢測設備或智能機器人必然會遇到高壓、高溫、輻射、化學腐蝕等極端困難的條件，光纖檢測技術則具有獨特的優越性，而且具有高精度、高速度、非接觸測量等特點。由于光信息傳輸的獨特優點，光纖檢測智能化將比其他檢測技術更有吸引力，特別是小型集成光學元件與微計算機結合的智能化全光纖檢測系統，其前途是無量的。此外，光柵和莫爾條紋的應用，對光電檢洌的數字化提供了有利條件。

   由上所述可以看出，新的光源或新的光電器件的發明，會大大推動光電檢測技術的發展。

   近幾十年來工程領域的加工精度已達到0.1 Wn甚至0.01 pun的水平，它對測量技術提出了更高的要求，迫切需要新的手段，因此先后出現了各種納米測量顯微鏡，如1982年問世的隧道顯微鏡，它用測量電荷密度的方法測量分子和原子級的微小尺寸，但只能用于測量導體表面。1986年研制成功的原子力顯微鏡，用測量觸針與被測器件之間原子力和離子力的方法來測量微小尺寸，因此可用于導體或非導體的測量，其點是，針尖與樣品接觸易使

樣品表面劃傷。根據原子力顯微鏡的思路，利用被測表面的不同物理性質對受迫振動懸臂梁的影響，通過測量其共振頻率的變化來測量被測表面，相繼開發出激光力顯微鏡、靜電力顯微鏡等。這些儀器都可以達到納米甚至亞納米級的分辨率。它們的分辨率大都是用驅動探針的壓電陶瓷的電壓與位移關系得到的，但是壓電陶瓷的滯后特性和蠕變使測量結果并不可信。為了準確測出這些納米級測量顯微鏡的精度，還必須溯源到光的波長上，因此迫切需要研制精度達到納米和亞納米級的干涉儀，來實現納米尺度的測量和標定，因而又相繼出現了精度可達0.1 nm昀激光外差干涉儀和精度可達0.01 nm的X光干涉儀。在納米和亞納米級