直接檢測是一種簡單而又實用的探測方法，在許多領域都得到廣泛應用，現有的JAN2N2329S各種探測器都可用于這種檢測系統。

  直接檢測系統的基本原理

  所謂直接檢測是將攜帶有待測量的光信號直接入射到探測器光敏面，光探測器響應于光輻射強度而輸出相應的電流或電壓。一種典型的直接檢測系統模型方框。

   檢測系統可經光學天線或直接由探測器接收光信號，在其前端還可以經過頻率濾波探測器的面積意味著增大系統的噪聲。因為對大多數探測器而言，其噪聲功率和面積的平方根成正比。第二，減小焦距使系統的相對口徑加大，這也是不允許的。另外，視場加大后引入系統的背景輻射也增加，使系統靈敏度下降。因此，在設計系統的視場角時要全面權衡這些利弊，在保證檢測到信號的基礎上盡可能減小系統視場角。

   隨時間變化的光電信號檢測方法及系統

   非相干光電信號按其時空特點分為隨時間變化的光電信號和隨空間變化的光電信號。前者的特征是信號隨時間緩慢變化，或周期性及瞬時變化，發生于有限空間內，與時間有關而與空間無關，信號可表示為F(t)。隨空間變化的光電信號發生在一定空間之內，光電信號隨空間位置而改變，表示為F(x，少，力，有的還同時隨時間改變，表示為F(x，y，z，f)。非相干光電信號的變換與檢測方法。