若判斷測試失敗是RFI通過外殼對EUT內部的直接輻射引起的,可按照以下步驟處理。

   對非金屬外殼,M24256-BRMN6TP由于外殼對干擾沒有任何屏蔽作用,干擾直接進人內部電路,此時應在非金屬外殼內部增加金屬屏蔽層,或對EUT內部敏感電路局部屏蔽來解決。

   對金屬外殼,要查找外殼上是否存在大的孔、洞、縫隙。首先檢查外殼的各個部件之間是否連接良好,是否存在外殼各部分之間的接觸面為了防銹而噴涂了非電導保護漆,若存在該情況,應去掉保護漆,讓各部件在接觸面實現良好電氣連接(為防止該連接面生銹,可在相應位置噴涂導電良好的保護漆)。

   必要時應在各接觸面加上導電襯墊,防止因緊固螺釘引起接觸面形變形成接觸不良和接口縫隙。若問題依然存在,再在EUT外殼上大的孔、洞、縫隙上粘貼導電金屬箔,一邊粘貼一邊檢測,若粘貼到某個位置后敏感問題消失了,則處理對應孔洞。然后,一個一個去掉孔洞的金屬箔,同時進行檢測,若敏感問題重新出現,再處理對應孔洞。若每個孔洞的問題均得以解決,則該敏感點的問題就解決了。