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電壓測量

發布時間:2017/10/8 19:34:15 訪問次數:300

   用ⅩΠ241型雙蹤示波器可對被測試波形進行定量的電壓測量。測量方法根據不同的測試波形而有所差異,但測量的基本原理是相同的。 QM3002S在一般情況下,多數被測波形同時包含交流和直流分量,測量時也經常需要測量兩種分量復合的數值或是單獨的數值。

   (1)交流分量電壓測量。-般是測量波峰到波峰之間數值或者測量波峰到某一波谷之間的數值c測量時通常將Y輸人選擇置于“AC”位置(當測量重復頻率極低的交流分量時應置于“DC”位置,否則將囚頻響的限制產生不真實的測試結果)。測量步驟如下。

   ①將Y微調旋至“校準”位置,調整“Ⅴ/山v”開關到適當的位置B(Ⅴ/山v)。

   ②讀出欲測量的兩點在y軸偏轉距離上的讀數A(山Ⅴ),則被測電壓=處(山v)×B(Ⅴ/div)=⒕×B(Ⅴ)。

   ③若用10△探頭,則應乘上探頭的衰減因素:例如,此時Ⅴ/dh開關在0。O~sⅤ/山v擋,⒕為3&v,貝刂被測電壓=0,“Ⅴ/diⅤ×3diⅤ×10=15Ⅴ

   (2)瞬時電壓測量。瞬時電壓測量需要一個相對的參考基準電位c一般情況下,基準電位指地電位,但也可以是其他參考電位:測量步驟如下:

   ①將測試探頭接人所需參考電位, “電平”拉出置于“HF”,此時出現一掃描線,調節Y移位,使光跡移到熒光屏上的合適位置(基準電位),此時Y移位不能再調節。

   ②將測試探頭移至被測信號端,推人“電平”并調節觸發電平,使波形穩定顯示。

   ③讀出被測波形上某一瞬時相對于基準刻度在y軸上的距離B(dlv),則:

   用ⅩΠ241型雙蹤示波器可對被測試波形進行定量的電壓測量。測量方法根據不同的測試波形而有所差異,但測量的基本原理是相同的。 QM3002S在一般情況下,多數被測波形同時包含交流和直流分量,測量時也經常需要測量兩種分量復合的數值或是單獨的數值。

   (1)交流分量電壓測量。-般是測量波峰到波峰之間數值或者測量波峰到某一波谷之間的數值c測量時通常將Y輸人選擇置于“AC”位置(當測量重復頻率極低的交流分量時應置于“DC”位置,否則將囚頻響的限制產生不真實的測試結果)。測量步驟如下。

   ①將Y微調旋至“校準”位置,調整“Ⅴ/山v”開關到適當的位置B(Ⅴ/山v)。

   ②讀出欲測量的兩點在y軸偏轉距離上的讀數A(山Ⅴ),則被測電壓=處(山v)×B(Ⅴ/div)=⒕×B(Ⅴ)。

   ③若用10△探頭,則應乘上探頭的衰減因素:例如,此時Ⅴ/dh開關在0。O~sⅤ/山v擋,⒕為3&v,貝刂被測電壓=0,“Ⅴ/diⅤ×3diⅤ×10=15Ⅴ

   (2)瞬時電壓測量。瞬時電壓測量需要一個相對的參考基準電位c一般情況下,基準電位指地電位,但也可以是其他參考電位:測量步驟如下:

   ①將測試探頭接人所需參考電位, “電平”拉出置于“HF”,此時出現一掃描線,調節Y移位,使光跡移到熒光屏上的合適位置(基準電位),此時Y移位不能再調節。

   ②將測試探頭移至被測信號端,推人“電平”并調節觸發電平,使波形穩定顯示。

   ③讀出被測波形上某一瞬時相對于基準刻度在y軸上的距離B(dlv),則:

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