為什么做泄漏電流試驗時升壓速度不宜太快?

   電介質在直流電壓作用下的總電流可分為電容電流、吸收電流和略有增加。KB3361ADJ-S

   曲線b為絕緣老化時示例,在氣隙起始游離之前,tan a比良好絕緣

低;過了起始游離點后則迅速升高,而且起始游離電壓也比良好絕緣低。曲線c為絕緣中存在氣隙的示例。在試驗電壓未達到氣體起始游離電壓之前,ta沱保持穩定,但在電壓增高至氣隙游離后,ta嗡急劇增大,曲線出現轉折。當電壓逐漸下降測量時,由于氣體放電隨時間和電壓的增加而增強,故ta嗡高于升壓時相同電壓下的值,直至放電終止,曲線才又重合,因而形成閉口環路狀。曲線d是絕緣受潮的情況。在較低電壓下,ta嶺已較大,隨著電壓的升高ta汾繼續增大;在逐漸降壓時,由于介質損耗的增大已使電介質發熱溫度升高,所以ta嗡不會與原數值相等,而以高于升壓時的數值呈下降趨勢,形成開口環狀曲線。特別對于多孔的纖維,電介質吸濕后,不僅電導損耗大,還會出現夾層極化,因此ta嗡將大為增加。