KA-2734SRSGC

   OLED器件的壽命定義為,在恒定電流或電壓驅動下,器件的亮度下降到初始亮度的一半時所需要的時間。在實際研究工作中,為了加快速度,壽命測試通常采用在高溫下或者在高亮度下工作的加速模式。在恒定電流密度驅動下,器件亮度的衰減符合以下公式: 嫵和“o分別為初始亮度和經過矽時間后的亮度,rflF9y別是與材料穩定性和器件結構相關的常數,可利用實驗數據f、zo、θ,通過上述公

式擬合得到。該器件在初始亮度為￡0時的壽命幻趁可有如下的表示.C都是常數,可根據實驗數據Gθ,擬合獲得。由此,在任何初始亮度￡0下的壽命幻⒓,便可通過上述公式將L0代人計算得到。器件的壽命是產業化的基本指標之一,是產業化前期必須面對和解決的問題。影響OLED器件壽命的主要機制有以下幾個方面:①封裝不良導致的水、氧等活性組分的人侵,對電極的腐蝕及對有機材料功能的破壞,從而形成非發光黑斑;②在以A蠔為電子傳輸層的器件中,由于空穴和電子傳輸不平衡(空穴較快)而形成的陽離子Alq3+對熒光的猝滅;③較大的金屬一有機及有機-有機界面注人勢壘會降低器件的壽命;④摻雜發光器件的壽命比相應的未摻雜器件壽命好。另外,oLED器件屬于電流型器件,壽命受所通過電荷多少的影響,在一定范圍內與驅動電流成反比。因此提高器件的電流效率,即降低驅動電流,可延長一定初始亮度下的壽命。同時,周期性的反向加壓,可提高器件壽命。